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[参考译文] UCC27511A-Q1:升压至390V 时、PFC MOSFET 低侧驱动器 IC 失效

Guru**** 2502205 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1230059/ucc27511a-q1-pfc-mosfet-low-side-driver-ic-failure-when-boosting-to-390-v

器件型号:UCC27511A-Q1

当390V PFC 电压升高时(当 IC 起作用且 输出电压高于65V 时)、驱动器 UCC27511AQ 就会损坏
主要是 PIN 1 (VDD)和 PIN 2 ((OUT1)引线会造成损坏。 与接地连接有什么关系吗? (因为 IC 的 GND 引脚连接到 AGND、15V IC 电源 连接到 PGND、并且它们都通过0欧姆电阻器短接)e2e.ti.com/.../power_5F00_control_5F00_merged.pdf

我将 附上 PFC 部分和辅助电源部分的 PDF 文件 作为参考   

 

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    您好、Hema:

    因此、驱动器仅在输出电压上升到390V 时才开始出现故障? 故障是即时的/可保证的故障还是随机的? 对于可能造成损坏的物品、有一些不错的选择。 首先、AGND 和 PGND 之间的分离在理想情况下不应导致任何问题。 如果它们是通过一个0Ω 连接的、它们应该相等。 实际上、这些跳线具有一些电阻和电感、但我不知道流经该环路的电流是否大到足以导致显著下降。 该器件的 A 版本可以处理输入引脚上的一些负电压。  

    根据您看到的损坏、我认为最可能的两个答案是上升到390V 会引起 VDD 上的浪涌、或向驱动器中注入噪声。 在电压升高时测量 VDD-PGND 可以帮助我们确定 VDD 是否是问题所在。 否则、GATE 波形的示波器捕获可以帮助我们判断问题是否出在此处。 该设计与 TIDA-00779设计非常相似、因此我们可以将二者的差异视为可能的问题来源。

    谢谢。

    Alex M.

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    感谢您的即时回复

    这是一种随机故障、不是每次都发生故障、而是每次发生40%的故障、只要它提高电压

    我附加 PFC 部分的 PCB 布局、其中包含许多详细信息

    请参阅并确认。 请分享针对我们所面临问题的每一个可能的解决方案、以便我们可以进行测试和确认  

     

    e2e.ti.com/.../pfc-section.pdf

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    Hema 您好!

    当 IC 激活时、随机性可能与交流输入的状态有关。 我在仿真中发现噪声(栅极电压振铃)在交流0交叉点附近最差。  

    以下是一些可能有用的东西:

    1. 添加额外的 CGS 电容将减少振铃、但代价是增加了开关损耗。
    2. 增加 RGS 也会产生类似的效果
    3. 使用铁氧体磁珠代替/配合栅极电阻器可以滤除高频振铃
    4. VDD 上的一些串联电阻/电感(旁路电容之前)可以滤除 VDD 上的任何振铃/瞬变
    5. 更改接地连接可能会有所帮助。 如果您在考虑接地连接的情况下跟踪驱动器的导通和关断环路、则比理想环路更长。 这可能会增加栅极驱动器环路的电感(相当高的 di/dt 网络)、从而导致振铃和损坏。 不过1-3中建议的修复可能有所帮助。  

    祝您在测试中一切顺利。 如果你可以获得任何示波器捕获、它可以帮助你了解潜在的问题是什么、并且有希望减少需要运行的破坏性测试的数量。

    谢谢。

    Alex M.