我正在设计栅极驱动器、我有一个简短的问题。
我们是否应该使用技术文档中的"检测阈值"和"电容器充电电流"的典型值？
如果我错了、请更正我、但我认为这些值的变化是由温度引起的。 不过、当计划在50度结温下正常运行时、我应该考虑哪些值？
我的担忧源于计算结果中的潜在差异。 μS、最小和最大"电容器充电电流"值之间可能存在0.7 μ A 的差异。 或者、作为另一个示例、最小和最大"检测阈值"之间存在1伏的差值、这可以转换为我正在使用的2MBI150VA-120-50 IGBT 的电流差为100A-150A。
您能帮助澄清一下我对此事的困惑吗？
此致、
您好！
感谢您的快速响应。
在您的回复中、您提到了"检测阈值"和"电容器充电电流"值可能因元件而异。 当然、我知道同一模型中的相同元件在实际设计的各个方面可能并不完全相同、例如输出电阻的微小变化。 但出于实际目的、我们通常忽略这些可忽略不计的变化。
不过、如果 图中显示的值变化 表示 组件到组件的最小和最大值、这是否意味着我们需要对每个生产单元重复执行去饱和测试？
我现在提出这个问题、但最有可能的是、我将根据典型值进行计算、并根据实际响应进行调整。 然而,我担心的是重复作品价值的变异性。 我想知道这些"检测阈值"和"电容器充电电流"值变化的主要原因。 例如、如果是环境温度、如果可以、我还想知道值会随着温度的升高而变化的方向。
非常感谢您的支持。
此致、
您好、Harun、
在我们的数据表中、我们提供了关键参数的温度图、以便您能够看到不同温度下的趋势。 对于 UCC21750、它是部分 6.12典型特性 。
在 UCC21750数据表的该部分中、您可以找到 DESAT 阈值与温度间的关系(图6-24)和充电电流(图6-29)图。 这些图表使用每个温度(-40°C、25°C、125°C 和150°C)下每个参数的均值来显示不同温度下的典型特性。
随着温度的升高、DESAT 阈值和充电电流都接近最大值。
此致、
安迪·罗布勒斯
