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[参考译文] BQ2970:数据表中的数据与我的 PCB 性能的测试结果不匹配

Guru**** 1142300 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ2970
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1323136/bq2970-the-data-in-the-data-sheet-is-not-matching-the-test-result-of-my-pcb-performance

器件型号:BQ2970

您好!

我使用 BQ2970实现了电池保护电路。 此外、我创建了一个与 BQ2970 EVM 类似的电路。 但是、在测试过程中、我没有获得 EVM 规格中提到的预期值。 我已经检查了容差水平、但我的数据超过了给定的容差水平。 您能否告知导致此差异的原因、以及继续使用我的电路是否安全? 我在下面附上了我的实验的测试报告。

谢谢!

萨纳特库马尔

e2e.ti.com/.../bat-pcb-test-res-ext.pdf

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    尊敬的 Sanath:

    1. 过度充电检测/释放电压

      02版 bq297xx 的 OVP 阈值为4.35V、因此4.36V 听起来是正确的。 4.2V 的迟滞听起来也很接近。

    2. 过度放电检测/释放电压

      2.55V 听起来有误、示波器看起来显示的电压高于此值。 我建议在测试期间在 C1上使用准确的万用表、以便精确测量器件引脚上的电压。 对于2.8V 阈值、3V 迟滞值似乎接近、但波形上的步长太大、无法准确了解恢复发生的电压。 我建议在器件恢复之前步进50mV、以便更好地了解阈值的位置。

    3. 放电过流检测/释放电压

      02版本的 OCD 阈值是160mV、因此155mV 听起来是正确的。 这个波形对我来说有点困惑。 触发保护时、BAT 引脚电压为什么会变为0V? 您的探头放在哪里? 当 FET 关断时、V-引脚会被负载上拉至 BAT、恢复的工作原理是这样的。 当 V-引脚电压由于负载阻抗增加而降至低于 BAT-1V 时、该器件将从 OCD (或 SCD)保护恢复。 我不确定这是否会发生、因为在您的波形中、BAT 看起来由于某种原因非常低。

    4. 负载短路检测/释放电压

      和以前一样。 当 V-<= BAT-1V 时、保护将恢复。

    5. 充电过流检测/释放电压

      02版本上的 OCC 阈值为-155mV、因此这似乎是正确的。

    6. 工作电流消耗

      当 BAT =3.9V 并且 V-=0V 时、这个值应该是流经 R1的电流。 您如何在电路板上设置此测试?

    7. 断电电流消耗

      该值应为 BAT = V-= 1.5V 时通过 R1的电流。 您如何在电路板上设置此测试?

    8. V–和 BAT 引脚之间的电阻

      我不确定您是如何获得如此低的价值的。 您如何设置此测试?

    9. V–和 VSS 之间的灌电流

      这应该是通过 R2的电流。 您如何设置此设置?

    10. 高电平激活时的 COUT 电流源

      这似乎没问题。

    11. 低电平激活时的 COUT 电流吸收

      它也是如此。

    12. 高电平激活时的 DOUT 电流源

      这可能是数据表中的一个拼写错误、V3可能应该是 V4。

    13. DOUT 低电平激活时的灌电流

      和以前一样。

    14. 过度充电检测延迟

      检测延迟并不是指 FET 关断所需的时间。 检测延迟是满足故障条件与 FET 开始关断之间的时间。 在本例中、这应该是 VBAT 超过 OVP 阈值和 COUT 关闭之间的时间。

    15. 过度放电检测延迟

      与14相同、但 VBAT 降至 UVP 阈值以下与 DOUT 关闭之间的时间。

    16. 放电过流检测延迟

      与以前相同、但满足 OCD 阈值与 DOUT 关闭之间的时间。

    17. 负载短路检测延迟

      与以前相同、但满足 SCD 阈值与 DOUT 关闭之间的时间。

    18. 充电过流检测延迟

      与以前相同、但 满足 OCC 阈值与 COUT 关闭之间的时间。

    供参考:

    此致、

    马克斯·韦博肯

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    尊敬的 Max Verboncoeur:

    1. 过度充电检测/释放电压

           感谢您的评论。

    1. 过度放电检测/释放电压

          如您所说、我使用万用表和 CRO 来获得这些值、我在该表中已将万用表视为我的最终值、并在文档中提到过。

    我将按照您的建议执行释放电压测试、并告知您结果。

    1. 放电过流检测/释放电压

    我已将探针置于 BAT 和 GND 引脚之间。

    正如 u 假设 BAT 电压变为低电平、因为当 OCD 触发时、VSS 到 V-的电压将增加到电池电压电平。

    1. 负载短路检测/释放电压

                     感谢您的评论。

    1. 充电过流检测/释放电压

                       感谢您的评论。       

    6、7、8、9、10、11、12、13 –我使用 BQ29700 EVM 来执行这些测试

    1. 过度充电检测延迟

        我想我在我的文档中也提到了同样的问题。

         我想知道此情况的延迟容差与数据表不匹配、是否可以继续。

    15、16、17、18

         我想知道此情况的延迟容差与数据表不匹配、是否可以继续。

     

    此致、

    S·库马尔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Sanath:

    我想我在我的文档中也提到了同样的问题。

         我想知道此情况的延迟容差与数据表不匹配、是否可以继续。

    [/报价]

    您文档中的测试用例似乎在测试 COUT/DOUT 从高电平到低电平所需的时间、但这与数据表中的检测延迟规格不同、 即从满足故障条件的阈值到 COUT/DOUT 开始关闭所需的时间。 我建议查看 数据表的第8.1节 、以了解它应该是什么样子的图表。

    此致、

    马克斯·韦博肯