您好!
我使用 BQ2970实现了电池保护电路。 此外、我创建了一个与 BQ2970 EVM 类似的电路。 但是、在测试过程中、我没有获得 EVM 规格中提到的预期值。 我已经检查了容差水平、但我的数据超过了给定的容差水平。 您能否告知导致此差异的原因、以及继续使用我的电路是否安全? 我在下面附上了我的实验的测试报告。
谢谢!
萨纳特库马尔
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尊敬的 Sanath:
供参考:
此致、
马克斯·韦博肯
尊敬的 Max Verboncoeur:
感谢您的评论。
如您所说、我使用万用表和 CRO 来获得这些值、我在该表中已将万用表视为我的最终值、并在文档中提到过。
我将按照您的建议执行释放电压测试、并告知您结果。
我已将探针置于 BAT 和 GND 引脚之间。
正如 u 假设 BAT 电压变为低电平、因为当 OCD 触发时、VSS 到 V-的电压将增加到电池电压电平。
感谢您的评论。
感谢您的评论。
6、7、8、9、10、11、12、13 –我使用 BQ29700 EVM 来执行这些测试 。
我想我在我的文档中也提到了同样的问题。
我想知道此情况的延迟容差与数据表不匹配、是否可以继续。
15、16、17、18
我想知道此情况的延迟容差与数据表不匹配、是否可以继续。
此致、
S·库马尔
尊敬的 Sanath:
我想我在我的文档中也提到了同样的问题。
我想知道此情况的延迟容差与数据表不匹配、是否可以继续。
[/报价]您文档中的测试用例似乎在测试 COUT/DOUT 从高电平到低电平所需的时间、但这与数据表中的检测延迟规格不同、 即从满足故障条件的阈值到 COUT/DOUT 开始关闭所需的时间。 我建议查看 数据表的第8.1节 、以了解它应该是什么样子的图表。
此致、
马克斯·韦博肯