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[参考译文] CSD18543Q3A:SOA 测量问题

Guru**** 2782445 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1318620/csd18543q3a-soa-measurements-questions

器件型号:CSD18543Q3A

大家好、

我们学习了如何定义和测量 MOSFET 的 SOA。

根据 TI 培训资料 https://www.ti.com/zh-tw video/4850608508001

我们列出以下步骤来进行测量、 如果出现问题、请随时予以更正。

步骤1 :在饱和模式下运行 MOSFET(DUT),因此 ID 仅取决于 VGS 电压。

步骤2 :通过外部电源提供 VDS 电压。

步骤3 :提供 VGS 并生成 ID 电流。

步骤4 :如果 MOSFET 仍然有效,返回到步骤3并增加 VGS 电压。

步骤5 :重做步骤3和步骤4,直至 MOSFET 损坏。 然后、我们可以在 SOA 图中得到一个点(VDS 和 ID)

我认为该过程是合理的、但我不确定我的理解是否正确、因为我在此设置中不使用电流源。

 

此致、

罗伊

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Roy:

    谢谢咨询。 您对 SOA 测试过程的理解基本上是正确的。 我将通过定期电子邮件与您联系、并提供其他信息。

    此致、

    约翰·华莱士

    TI FET 应用