[参考译文] UCC21750：故障导通行为

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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1310909/ucc21750-faulty-turn-on-behavior

器件型号：UCC21750

您好、TI 团队、

我在使用驱动器进行双脉冲测试期间观察到一个问题。当我尝试确定 SiC MOSFET 在某些工作点的特性时、在第二个脉冲开通后、栅源电压在大约100ns 后被拉低至关断电压。有时、驱动器会在几百 ns 后再次尝试开启、但失败了。由于这仅在具有高电流/电压/温度的工作点发生、因此我假设它与 di/dt 和反向恢复峰值电流有关。 DESAT 和 AIN 连接到 COM、CLMPI 连接到 VEE。此外、FLT 未显示任何误差。您是否知道导致此问题的原因？

谢谢！

1 年多前

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2380870 points

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您好、Janie。

欢迎使用 E2E！为了帮助应对这种情况、我对双脉冲测试设置和系统有一些问题和评论：

1.如果可能,您能向我们分享双脉冲测试的原理图和系统条件吗? (例如、VCC、VDD、总线电压、负载电流温度、FET PN 等)以及捕获的任何波形。

2.此事件的可重复性如何？在栅极下拉事件之后、您是否观察到栅极驱动器和/或 FET 有任何损坏？

3. 该事件发生期间、您能否尝试监控 VCC 引脚以及 VDD？如果电源不稳定并触发 UVLO、RDY 将下降、输出将关闭。如果电源恢复、栅极驱动器将尝试再次开启。

4. 您可以尝试在该事件期间监控输入波形吗？初级侧的噪声耦合可能会使输入波形失真、从而影响输出波形。

请告诉我您是否能够捕获更多信息、我们将能够提供更全面的分析。

谢谢！

薇薇安

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2380870 points

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尊敬的 Vivian：

感谢您的答复。感谢您的建议、我更改了驱动器输入端的电容器、其中我使用 RC 网络来过滤输入信号。当我把它从100pF 改为1nF 时、问题就解决了。

非常感谢、

Janine

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2380870 points

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您好、Janine、

很高兴听到您的讲话！如果您有任何问题或评论、请随时再次与我们联系。

谢谢。

薇薇安

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