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[参考译文] CSD18536KTT:RθJC 外壳顶部的定义在哪里

Guru**** 2383240 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1304700/csd18536ktt-where-is-definition-of-case-top-of-r-jc

器件型号:CSD18536KTT

大家好、

您能告诉我、RθJC 顶部外壳的定义是什么吗? 它是散热焊盘(漏极)的中心吗?

如果是、则客户无法测量"外壳顶部"温度。 客户能否将散热焊盘顶部测量为 Tc?  

此致、

林市

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    您好、Hayashi-San:

    谢谢咨询。 数据表中指定的结至外壳热阻 RθJC 位于选项卡的底部、如您包含的较低图表中所示。 TI 不会使 RθJC 达到封装顶部的规格。 根据之前的仿真、顶部塑料封装中心的 RθJC 大约为30°C/W。 由于 FET 芯片直接安装在金属端子上、因此在顶部的金属端子上进行测量时应低得多。 如果您有问题或需要其他信息、请告诉我。

    此致、

    约翰·华莱士

    TI FET 应用

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    您好、John

    谢谢你。 让我确认一下。 在下图中、红圈是定义为  RθJC 吗? 此外、如果客户测量的温度为蓝色圆圈、则其主题指标将高于 RθJC、低于30C/W、正确吗? 您是否指定了此热指标?

    此致、

    林市

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    您好、Hayashi:

    我认为 RθJC (底部)测量是在封装底部标签的中心附近完成的、但我必须与同事确认、因为我没有参与实际测试。 这将不得不等到下周,当他从假期回来。 蓝色圆圈中的温度与封装底部红圈中的温度相差不应很大。选项卡是安装 FET 芯片的连续金属片。 请参阅以下链接中的博客、详细了解 TI 如何测试我们的 FET 的热阻抗和规格。 我将在收到更多信息后立即向您提供最新信息。

    此致、

    约翰

    http://e2e.ti.com/blogs_/b/powerhouse/archive/2016/06/10/understanding-mosfet-data-sheets-part-6-thermal-impedance

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    您好、Hayashi:

    执行以查看您的问题是否已得到解决。 请告诉我。

    谢谢。

    约翰

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    您好、Johm:

    我必须与同事确认,因为我没有参与实际测试。 这将不得不等到下周他从假期回来了[/报价]

    我在等待您评论的更新。 但在温度点上红圈和蓝圈是相似的就好了。

    此致、

    林市

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    您好、Hayashi:

    很抱歉我的困惑。 我和一个同事一起检查了一下,他不是很确定,但认为它是接近标签的中心。 遗憾的是、完成实际测试的人不再在 TI 工作。

    谢谢。

    约翰