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[参考译文] TPS254900-Q1：尝试在 TEST_J 模式下更改芯片的 CDP 和 SDP 模式

admin
Guru**** 1135610 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1306267/tps254900-q1-attempt-to-change-the-cdp-and-sdp-modes-of-the-chip-in-test_-j-mode

器件型号：TPS254900-Q1

我们委托 USB 身份验证、test_尝试在 J 模式下更改芯片的相关配置、实验发现 CTL1和2都设为 SDP 模式、在 J 模式下测得 DM 电压为4.7mV； 将 CTL1和2设置为 CDP 模式、并测量 J 模式下的电压 DM22.5mV；

在 SDP 模式下、尽管 TEST_J 的电压较低、但有几个无法识别的 U 盘；

认证确定要求 TEST_J 模式下、DM 低于20mV、因此当硬件配置(如限流电阻等)存在问题时、请帮助查看我们的原理图。 请分析并提供支持。 谢谢你。 附件为该设计的原理图。

我们倾向于在 TEST_J 模式下使用 SDP 模式来测试_、电压可能过低、并通过认证测试、但我们不确定是否有任何副作用、例如 USB 识别能力的降低。 我们仍然可以将集线器安装在主机之外、因此主机不会为客户提供快速充电功能、而集线器则提供充电功能。

e2e.ti.com/.../ZHENKANG-SCH.pdf

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    您好、Sam、

    很抱歉这么晚才回复、我们将查看此问题并向您提供一些反馈、谢谢。

    此致、

    国野市

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    您好、Sam、

    我 对 JK 测试没有太多经验。 但这里有一些观点。

    1.眼图测试结果是否良好?  建议将 C1618和 C1619更改为4.7pF。

    2.从 SDP 到 CDP，电压电平由于电流较大而升高，可能会升高接地电压。 请检查 GND 布局、如果布局不良、是否存在高压降。

    3.手机通常充电在 CDP 模式根据我的经验.  

    4.检查眼图。

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    1.眼图已经过测试并通过了测试。 由于眼图结果已通过、因此暂时无需调整 C1618和 C1619。

    2.在 SDP 和 CDP 模式下，电流由我们通过限流电阻器设置，两种设置的电流都小于1A 的输出。

    3、我们的产品是车机产品,不是手机产品,客户不要求直接外部充电,实际使用的是车机安装的集线器,由集线器外部充电,所以不要求使用 CDP 模式。

    在认证测试中、即其中一项测试 TEST_J 模式、测得的主机的 SDP 和 CDP 模式低于20mV (仅 CDP 模式下为15mV、SDP 模式下为6mV、判断正常)、 但是、如果集线器的部分电压处于 CDP 模式下、它将超过20mV、则被判定为不合格。

    集线器工作模式是 CDP 模式、仅针对测试它是11mV、我们的赛车机器在 CDP 模式及其组合中超过20mV、因此我们只能选择 SDP 模式工作以便通过测试。

    所以最好让 TI 专家解释具体原因、以及在类似情况下向客户提出建议。 谢谢！

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    您好、Sam、

    您是否是说插入集线器后、应引入一个局部电压并导致故障？

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    我不明白你说这些话是什么意思。

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    您好、Sam、

    11mV 或20mV 是如此之小的电压。 如何消除噪声的影响？

    我不知道为什么它失败,集线器添加。 但根据我的经验、正如我之前所说、地面漂移可能是一个原因。 有关更多信息、请向 Hub 团队咨询。 他们应该在数据交易方面更加专业。

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    我们重点讨论 Test_J 模式电压、而不是噪声

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    TI__Guru**** 1135610 points
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    您好、Sam、

    明白了。 以前从未收到客户的 TEST_J 证书。 将会了解更多相关信息并与您进行讨论。