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您好
使用 BQ4050进行的客户设计在空载短路测试中、发现在进行保护后、DMOS 在达到恢复延迟条件之前反复断开。 这样做的原因是什么？
原理图和测试如下所示：
CH2：DMOS 的 VDS 短路波形 CH4：短路电流波形
请帮助检查它。
正在等待您的回复。
谢谢
星形
尊敬的明星： "空载短路测试"是什么意思？ 如果我理解正确、他们是在没有负载的情况下测试短路吗？ 电流意味着电流是0A？ 请确认以上内容并共享设置。 此致、 何塞·库索
您好，Jose
感谢您的答复。
您的理解是正确的。 客户在没有负载的情况下测试短路。 gg 文件如下所示：
e2e.ti.com/.../I0519A.gg.csv
尊敬的明星： 它们是如何测试短路的？ 它们是否直接将 PACK+/-短路？ 这很危险、如果之前没有测试短路保护功能、可能会损坏 FET 和器件。 建议使用负载开始测试短路、并降低 OCD 阈值以进行测试。 这样可以查看 FET 是否正常工作。 如果问题仍然存在、请在加载测试时共享该日志文件。 此致、 何塞·库索
感谢你的帮助。
OCD 阈值为8A、FET 功能正常工作、整个电池组正常工作。 问题不在这里。 更换 BQ40Z50后、此问题消失。
客户报告说、此问题100%出现在不同项目中、并不是由有缺陷的单个芯片引起的。
我建议他们使用 EVM 进行相同的测试。
尊敬的明星： 好主意。 让我们看看该 EVM 的结果是什么。 此致、 何塞·库索
尊敬的明星： 我在业务部门做了更多的挖掘。 请参阅设计人员的以下评论。 "
通过与设计团队交谈并查看代码、电量监测计似乎可能会在 ASCD 之后再次进行短路测试、以检查短路事件是否仍在发生。 这可能已在 BQ40Z50固件中与 BQ4050代码相比进行了更改。 这是对给定操作有意义的唯一情况、硬件无法恢复硬件保护。
" BQ4050的行为与 BQ40z50略有不同。 它会执行2个尖峰以确保故障存在。 此致、 何塞·库索
通过与设计团队交谈并查看代码、电量监测计似乎可能会在 ASCD 之后再次进行短路测试、以检查短路事件是否仍在发生。 这可能已在 BQ40Z50固件中与 BQ4050代码相比进行了更改。 这是对给定操作有意义的唯一情况、硬件无法恢复硬件保护。