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[参考译文] BQ24075:某些芯片上有缺陷行为

Guru**** 1123240 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24075
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1294737/bq24075-defective-behaviour-in-some-chip

器件型号:BQ24075

大家好!

我有一些产品正在进行故障排除、BQ24075芯片似乎存在缺陷。
该公司声称是 TI 的有缺陷批次、但一些产品中包含来自不同批次的 TI 芯片、因此出现了该缺陷。
遗憾的是、我无法分享电方案、但这是一款低功耗 BLE 器件。
我认为这不是电路的问题、因为有几个器件工作正常、而对于有缺陷的器件、当我更改 BQ 芯片时、它们开始正常工作。

该缺陷基本上在 VBAT 上表现为奇怪的行为、在电池搜索模式下、器件在错误的电压电平之间振荡、而当我连接电池时、它没有开始充电。

下面我发布了通过示波器获取的一些 VBAT 的屏幕截图。

1)连接电池时芯片工作的行为:

故障芯片的行为:

1)

2)

3)

当我连接电池时、他们无法识别它、VBAT 保持在电池的电压、而没有发生充电。

这些芯片全部来自不同的批次、我在此报告芯片标记、以防它们帮助:

NXK TI 118 ALJL
NXK TI 098 A9XR
NXK TI 188 A53R

有人知道问题可能是什么吗? 这么多的 TI 芯片、不可能是坏的。 可能是处理/存储不当吗?

非常感谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Davide

    感谢您的联系。 以帮助解决您的问题。

    您能介绍一下您的测试程序吗? 您是否有任何 V_IN 和 V_bat CE 和 SYSOFF 的示波器图?  

    在您的测试中、电池电压是多少、您是否正在使用 TS 引脚?  

    V/R

    拉斐尔·卡马里洛