[参考译文] TLV1117LV：3个电路板上的1117在 EMC 测试过程中损坏

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器件型号：TLV1117LV
主题中讨论的其他器件：TPS54302

在芯片的 EMC 测试过程中、三个电路板上的1117受损，请帮忙分析原因并提供改进措施。谢谢！

以下是原理图、接线图、相关测试标准和测试现场条件。

电源链是通过 TPS54302转换为5V 的12V 电池、然后通过1117将此5V 电路同时转换为3.3V 并由 MT3608进行升压

e2e.ti.com/.../11.MP4

e2e.ti.com/.../TR_2D00_E_2D00_117B-_908F045C97627062A65E2800_RI_29002D00_ALSE_D56CD58B8C9A4B6DD58BB08B555F_.pdf

2 年多前

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2782445 points

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您好，Tonyx：

文档的语言不是英语、但看起来这是辐射抗扰度测试。看起来好像有多个 IC 出现了故障、所以我不知道测试是导致 LDO 首先损坏、还是 LDO 出现了故障、是因为其他 IC 出现了故障。如果您能够再次运行该测试、我会首先使用示波器检查 LDO 周围的绝对最大值冲突。确保 LDO 没有因为这些故障而与其他电源轨短路-如果是、LDO 可能没有先断开、但可能由于另一个 IC 故障而发生故障。检查 LDO 的温度以确认其不进入电流限制保护或热保护状态。

谢谢。

斯蒂芬

电源管理（参考译文帖）

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[参考译文] TLV1117LV：3个电路板上的1117在 EMC 测试过程中损坏