我们正在利用 BQ25895 PMIC 为产品中嵌入的1S1P 18650电池充电的一项设计实现量产。 VBUS 由 USB Type C 端口提供。 PCBA 的测试固件会配置下表所示的 PMIC 寄存器、然后读回这些寄存器:
寄存器 | 初始化的值 | 正常读回 | 异常回读 |
修订版00 | 0x48 | 0x48 | 0x48 |
修订版01 | 0x06 | 0x06 | 0x06 |
修订版02 | 0x61 | 0x61 | 0xE1 |
修订版03 | 0x10 | 0x10 | 0x10 |
修订版04 | 0x0F | 0x0F | 0x0F |
修订版05 | 0x10 | 0x10 | 0x10 |
修订版06 | 0x3F | 0x3F | 0x3F |
修订版07 | 0x8D | 0x8D | 0x8D |
修订版08 | 0x03 | 0x03 | 0x03 |
修订版09 | 0x44 | 0x44 | 0x44 |
REG0A | 0x93 | 0x93 | 0x93 |
REG0D | 0x12 | 0x12 | 0x12 |
异常读数来自 CONV_START 位 REG02。 在某些电路板上、此位似乎表示一个 ADC 转换被激活、而在其它电路板上、此位表示没有激活的 ADC 转换。 考虑到我们已将电池监控器设置为连续转换、我们执行该检查时 CONV_START 位会出现什么结果尚不清楚、但大多数电路板似乎指示没有有效转换。 对电路板进行重复下电上电后、结果是一致的(即读取没有有效转换的电路板始终读取没有有效转换、读取有效转换的电路板始终读取有效转换)。
我尝试了解电路板之间的差异、但没有发现样片之间任何相关的外部(PMIC)因素/差异。 我想知道是否存在内部变化、这些变化可能导致单元之间的这种行为不同、但这种行为是自一致的。
对此有何解释?