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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1291735/tlv1117lv-1117-on-3-boards-was-damaged-during-emc-testing
在芯片的 EMC 测试过程中、三个电路板上的1117受损，请帮忙分析原因并提供改进措施。 谢谢！ 以下是原理图、接线图、相关测试标准和测试现场条件。
电源链是通过 TPS54302转换为5V 的12V 电池、然后通过1117将此5V 电路同时转换为3.3V 并由 MT3608进行升压
e2e.ti.com/.../11.MP4
e2e.ti.com/.../TR_2D00_E_2D00_117B-_908F045C97627062A65E2800_RI_29002D00_ALSE_D56CD58B8C9A4B6DD58BB08B555F_.pdf
您好，Tonyx：
文档的语言不是英语、但看起来这是辐射抗扰度测试。 看起来好像有多个 IC 出现了故障、所以我不知道测试是导致 LDO 首先损坏、还是 LDO 出现了故障、是因为其他 IC 出现了故障。 如果您能够再次运行该测试、我会首先使用示波器检查 LDO 周围的绝对最大值冲突。 确保 LDO 没有因为这些故障而与其他电源轨短路-如果是、LDO 可能没有先断开、但可能由于另一个 IC 故障而发生故障。 检查 LDO 的温度以确认其不进入电流限制保护或热保护状态。
谢谢。
斯蒂芬
