[参考译文] UCD90320：UCD90320与 UCD90320U

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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1290020/ucd90320-ucd90320-vs-ucd90320u

器件型号：UCD90320

大家好、

根据数据表、建议在"电信和网络"设备上使用"U"后缀部件。此外、它们引用 SEU 事件、

专题

超低阿尔法(ULA)塑封料可减少由阿尔法粒子造成的软错误
单粒子翻转(SEU)检测

如果客户反馈导致创建此"U"版本、这激发了您的好奇心？您能否分享有关此方面的任何信息？最终、他们是否应该关注不带后缀的器件性能？并且/或者我们应该考虑转移到应用的 U 后缀器件吗？

最好、他们希望通过简短的通话来提出其他有针对性的问题。

提前感谢

1 年多前

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2386610 points

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您好

U 和非 U 均可用于电信和网络。

我们已要求客户提供对 SEU 不太敏感的序列发生器、因此我们采用了 ULA 塑封材料。

它是由应用驱动的、并且它们是否对 SEU 敏感？

此致

颐和

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2386610 points

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您好、Yihe、

我的‘‘经历了一些原因不明的卡重新启动(我们使用的所有 UCD90xxx 器件都有问题、而不仅仅是 UCD90320)、由于存在"U"器件、他们想知道我们今天使用的"非 U"器件是否发生了 SEU 事件。

您的团队是否在 SRAM 中检测到 SEU？

答案… 我们不知道。 ‘"非 U"器件受 SEU 事件影响、我们可以通过什么方法知道？记录我们能够在事后读取的信息的寄存器？ ‘如何处理"非 U"器件的 SRAM 中的 SEU 事件？器件复位？器件锁定？还有其他问题吗？响应是随机的还是确定的？

提前感谢！

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2386610 points

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您好

SEU 主要由两部分导致：α 粒子和中子束。

使用 ULA 塑封材料有助于最大限度减小阿尔法粒子的影响。但中子的影响始终存在。

我们尚未对器件进行任何中子束测试。

SEU 是一种软错误、SEU 的结果是随机的。客户可能不会注意到这一点。

此致

颐和

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2386610 points

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您好、Yihe、

您能否帮助我了解哪些应用/环境值得考虑"U"设备？

您能否确认、没有办法确定"u"变体能够防止出现的故障？

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 2386610 points

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您好

这由客户决定、他们需要从系统评估 SEU 以确定风险级别。

目前、没有迹象表明此问题与 SEU 相关。

即使对于 U 变体、它也只是会降低 SEU 的时基故障率、并且无法完全消除和校正 SEU 导致的误差

此致

颐和

电源管理（参考译文帖）

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[参考译文] UCD90320：UCD90320与 UCD90320U