你(们)好!
我对 BQ25629故障行为有一些疑问。 我们在其中一个项目中使用了 BQ25629。 遗憾的是、在为我们的电池充电时、经常会损坏 BQ 芯片(大多数情况下、电流较高、例如1、5A–2A)。
BQ 芯片损坏的行为基本上始终相同、如下所示:
电池连接到 BQ、一切看起来都正常、没有故障标志、并且提供了系统电压且稳定。 我们一插入 USB 电源(来自移动电源)、BQ 芯片就会关闭 Sys 电压、看来 BQ 正进入关断/复位、芯片永久损坏。 这会在1到2秒内发生。
一旦损坏 BQ 芯片仍然可以使用电池运行(I2C 通信和传感器值正常工作)、但当插入 USB 电源时、芯片会不断关闭 SYS-Voltage 并永久重新启动(可能是因为 TDI 上升到120°C 以上)。 唯一的解决办法是更换芯片、使电路板再次工作。
我们已经手动添加了缺失的10uF 和0.1uF PMID 电容(参见附加的原理图)、并将 VBUS 电容放在更靠近芯片的位置、这样就更难销毁 BQ 芯片、但当芯片被销毁时、仍然有一些情况发生。
我们的问题是:
-你知道上面描述的损坏的 BQ 芯片的行为,它是否与特定问题有关?
-你认为什么可以导致这些问题?
感谢您的帮助!
此致、
卢卡斯