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[参考译文] LM63610-Q1:参阅关于 ISD 数据并短接至 Vbat 测试

Guru**** 1139930 points
Other Parts Discussed in Thread: LM63610-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1277115/lm63610-q1-consult-about-isd-data-and-short-to-vbat-test

器件型号:LM63610-Q1

专家、您好!

  1.从数据表中我只能在 Vin=13V 时获得 ISD 数据、请在 Vin=20V (考虑 TJ=125C 或150C)时提供数据。 谢谢!

  2.此器件能否承受输出短接到输入测试的情况(Vin 和 Vo 见下图)? 会发生什么情况? 您能否提供测试报告?

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    您好、Zhiyaun:

    请在下面找到我对您的问题的解答:

    1:该器件已发布、电气特性表和限值是最终值。 如果您想为您的应用测试某个值、请订购 EVM 并在工作台上测量: https://www.ti.com/tool/LM63615QDRREVM

    此 EVM 上的器件是不同的可订购器件型号、但它将正确反映 LM63610-Q1的行为。

    2:该器件可以承受输入电压到输出电压的短路。 电感限制了峰值电流。 但是、建议在您的应用板上进行评估。 此外、如果 Vout 上升到 Vin 以上、建议在 Vout 和 Vin 之间设置一个肖特基二极管。

    此致、

    拉赫蒂·里奇

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    专家您好

      对于问题2、当 Vin>6V 并短接至 Vo 时、FB 将会高于1.2倍的调节点、根据数据表、将不会进行开关、因此电感器不会达到电流限值、对吗?

      那么、如果输入电压<6V、会发生什么情况?

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    尊敬的 Zhiyuan:

    在给定的 Vin 到 Vout 短路条件下、反馈可能会损坏、具体取决于输入和输出电压配置。

    此致、