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[参考译文] LM25117:在设计中添加磁珠时出现问题

Guru**** 2503725 points
Other Parts Discussed in Thread: LM25117

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1267371/lm25117-issues-adding-beads-to-the-design

器件型号:LM25117

大家好、

我的客户报告称、添加 Mn-Zn 磁珠后该器件进入了 OCP、但 Ni-Zn 磁珠未报告任何问题。

您能帮助说明此处可能存在什么问题吗?建议为 LM25117使用哪种磁珠?

(红色框表示施加磁珠的位置。 对于 FET、磁珠被添加到源尺寸中)

似乎 Mn-Zn 和 Ni-Zn 磁珠具有不同的阻抗特性、具体取决于

此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    David 您好!  

    不首选添加磁珠。 我们建议客户优化 PCB 布局或减慢开关速度、以更大限度地降低 EMI。

    由于 OCP 由 CS-CSG 的电压触发、请确保 CS-CSG 布线以开尔文连接到检测电阻器并在没有任何其他连接的情况下并行布线。   

    - EL

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    您好、EL:

    很抱歉没有更新此文件。

    这位客户今天刚刚回到我身边、提到他们发现、在事件发生期间、CS-CSG 电压实际上低于 VCS (TH)、这意味着输出电压降问题可能是由其他原因引起的。

    我认为客户的测量值可能不准确、但假设 OCP 不是原因、是否还有其他可能的原因 导致 Vout 下降、类似于 OCP 响应?/

    此致、

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    你好,David  

    首先、请确保转换器在没有磁珠的情况下能够正常工作。 如果添加磁珠后转换器无法按预期工作、那么问题可能是由您提到的 OCP 引起的。 其他可能的原因是由于击穿而导致的故障。 请检查添加磁珠后的死区时间是否足够、还应检查高侧 MOSFET 导通时是否存在任何 dV-dT 感应导通问题。  

    - EL