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[参考译文] BQ40Z50:静电接触测试+8KV 芯片复位

Guru**** 2613915 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ40Z50

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1268536/bq40z50-electrostatic-contact-test-8kv-chip-reset

器件型号:BQ40Z50

您好

客户使用 BQ40Z50进行测试 时、4S2P 电池组会在通信端口和 P+、P-使静态接触+/-8KV 时触发芯片复位。

下图是施加静电时、由 P+和 P-断电触发20ms 的通信和 P+、P-器件的原理图和 PCB 布线、以及复位波形。

请帮助了解存在问题的地方、谢谢!

谢谢

星形

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Star:

    布局不理想、它应具有一个实心接地层来尽可能帮助吸收 ESD、PACK+至 PACK-上的电容应具有尽可能短且粗的迹线。 我们可以看到添加接地层的最大改进。 在施加到电量监测计之前、还可以尝试增大 C19和 C20来吸收更多的电压。

    此致、

    怀亚特·凯勒