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器件型号:BQ40Z80 客户有一个项目是7芯 BQ40Z80、但是一直有问题在 他们的生产线上触发 IC 的防裂机制、需要把软件重新烧坏。 因此、他们希望了解以下三个问题:
1、根据以前的通讯记录, IC 的抗开裂性是由 TS1的电压来判断的。 能否详细解释一下防开裂的逻辑? 电压高多少? 可以持续多长时间? 在这一阶段,判决破裂了。
2.他们发现当他们安装电池时, IC 会被错误地激活。 通常、当应用第三节电芯时、IC 会激活。 在此上电过程中激活 IC 是否会导致 IC 闪存被擦除?
3、发现每次 IC 被激活、TS1都会出现异常的尖峰、如下图、尖峰的原因是什么?
