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[参考译文] TPS2663:电压 DIP 测试期间的浪涌电流

Guru**** 2535750 points
Other Parts Discussed in Thread: LM5069, TPS2663

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1264421/tps2663-inrush-current-during-voltage-dip-test

器件型号:TPS2663
主题中讨论的其他器件:LM5069

您好、TI 团队。

我们的产品在电源电路器件中采用了理想的二极管+ LM5069。 我们正在考虑将该电路部件更改为 TPS2663。

该应用为 PLC。 要求如下
输入电压(典型值):DC24V
输入电压(最大值):DC28.8V
输出电容:4278uF (最大值)
输出电流:3A (最大值)

在使用 LM5069的应用中、当进行电压 DIP 测试时、电压恢复后、计时会出现浪涌电流、导致 LM5069关断 FET 并尝试重新启动。 这会导致备用时间短于我们从 Cout 电容中假定的时间。 这是因为重新启动周期和恢复栅极电压所需的时间。

然后、您能回答以下问题吗?
(1)我认为支持反向电流保护的电子保险丝、例如 TPS2663、适合在电压 DIP 测试期间解决该问题。 是这样吗?
我知道 TPS2663通过 IN_SYS 引脚监控外部电源、以便在电压中断的情况下能够高速启动 FET。


(2)如果(1)正确、您能否向我介绍一些支持反向电流保护的电子保险丝?

(3)我知道在使用 LM5069等外部 FET 的热插拔 IC 进行电压 DIP 测试期间很难抑制浪涌电流、这种感觉是否正确?
我们认为这样比较困难、因为在理想二极管+ LM5069配置中、LM5069无法监测外部电源电压。 请提供与此相关的任何应用手册或其他信息。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Shotaro:

    我将在星期四 EOD 回来讨论这个问题。

    此致

    G·库纳尔

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    尊敬的 Shotaro:

    是的、TPS2663将是这种情况的理想之选。 请务必查看以下波形:

    您需要将 PGTH 引脚连接到 VOUT 以实现此类响应。 这将确保 FET 以更快的方式启动。

    此致

    G·库纳尔