[参考译文] REF5030：新器件 REF7030QFKHT

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：REF5030

我希望 REF7030QFKHT LCCC 封装的长期稳定性。第7.11节包含一个图形、展示了稳定性水平还是随时间推移不断下降。在其打开或关闭时、长期稳定性为0到1000h @ 35ppm DegC？如果可能的话，我们需要长达40年的长期稳定数字。

0 admin 1 年多前

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您好！

通常、大多数偏差发生在前100小时。在考虑器件开启的情况下计算长期漂移。

在估算超过数据表图中所示值的长期漂移时、有一些方法可以做到。然而、需要注意的是、这只是一个估算值、各个器件之间的实际长期漂移可能会有所不同。本博客重点介绍了具体情况： e2e.ti.com/.../ic-long-term-stability-the-only-constant-is-change

本博客的一些亮点：

125°C 1000小时的长期漂移测试规定、室温下的产品使用寿命为10年、不包括静态条件下的自发热。

VOUT 可能在10年生命周期内发生变化、最高可达数据表最大/最小值的±100%。这意味着10年(87,600小时)后、在室温下恒定运行、REF7030 LCCC 封装的估算最大输出电压漂移应小于±0.025%或±250ppm、如数据表中所指定。

此外、还有一些方法可以更大限度地减少校准等长期漂移影响。

您是否特别想要40年的长期漂移规格？此器件的预期温度变化是多少？您考虑过哪种方法来最大限度地降低长期漂移的影响？

谢谢。

杰克逊

电源管理（参考译文帖）(Read Only)