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[参考译文] LM74900Q1EVM:过流6A

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: LM74900Q1EVM, LM74910-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1253397/lm74900q1evm-overcurrent-6a

器件型号:LM74900Q1EVM
主题中讨论的其他器件: LM74910-Q1

大家好、

您是否知道 LM74900Q1EVM 中是否存在与 Q4 MOSFET 控制相关的任何问题或勘误表?

 客户似乎在 LM74910-Q1的应用板方面遇到了 Q4问题。 基本上,它似乎高达5.4A 评估板工作完美.

但是 :

  • 在大约12…16 V 电源时 ,我们  用2R 负载和电子负载测试了 OCP (这两种 方法都导致 热 Q4晶体管接近 OCP 开关点(也许之后), 有时 我们得到了有缺陷的 MOSFET Q4  )  
  • 我们不明白为什么 MOSFET Q4变得 很热,即使栅极电压开关关闭在过流事件的情况下相当好. 在 OCP 触发5.4A 之前关闭 Q4仍为冷…。 。 过热事件仅在靠近开关关闭区时发生。

 在下方 、您可以看到     发生 OCP 时的黄色示波器信号 HGATE。

 

  • 然后、我们 从电路板中移除了10nF C6、仍然出现问题
  •  下面测试的原始跳线设置  

谢谢!

达里亚

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Daria:

    EVM 设置的 OCP 阈值为5A。 任何大于 5A 的持续负载电流持续1ms (TMR 持续时间)都将关闭 FET。  

    MOSFET 发热和损坏可能是由于 MOSFET 连续重试以在重负载下导通所致。 当该器件尝试通过负载启动时、由于 MOSFET 上的电压(Vin-Vout)和流过它的电流(ILOAD +为输出电容充电的浪涌电流)、MOSFET 中将有很大的功率损耗。 如果 MOSFET SOA 不足以承受启动期间的功率损耗、FET 将损坏。 要解决此问题、

    1. 通过在 J10引脚之间连接分流器来禁用闭锁行为的自动重试5-6
    2. 对负载进行编程、使其仅在 Vout 达到9V 等特定阈值后启用。 这将在输出电压小于9V 时降低 FET 持续时间内的功率耗散
    3. 使用具有更强 SOA 的 FET、以便它能够承受启动期间更高的功率耗散。