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器件型号：TPS3850-Q1 主题中讨论的其他器件： TPS3850
您好、应用团队：
我在查看 TPS3850-Q1功能安全信息文档(如您所见)时、文档中提供了基于 IEC TR 62380和 SN 29500-2标准的时基故障(FIT)率。 但是、当我看到其中描述的故障模式分布时、只有基于 IEC TR 62380的裸片故障模式和分布数据。 您能提供以下两个问题的评论吗？
(1) 如果我根据 SN 29500-2标准计算实际应用的时基故障(FIT)率、那么 TPS3850-Q1的故障模式及其分布是什么？ 为了进行计算、我需要参考哪种文档的故障模式和分布？
(2) 如果我根据 IEC TR 62380标准计算实际应用的时基故障(FIT)率、表3-1中列出的失效模式是否足够？ 与封装 FIT 类似、是否需要考虑与 EOS FIT 相对应的故障模式？ 如果可以、我可以参考哪个文档？
谢谢！
e2e.ti.com/.../TPS3850_2D00_Q1_2D00_Functional-Safety-Information.pdf
