请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号:CSD23382F4 您好:
我的客户在 REL 冲击测试后发现 CSD23382F4损坏。
冲击测试的内容是将样品(PCBA)放在固定装置中并进行修复。 器件根据固定装置向下移动、为样本(PCBA)提供即时加速。
您能否提供此 FA 的此芯片的可靠性测试规格/条件? 谢谢。
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
您好:
我的客户在 REL 冲击测试后发现 CSD23382F4损坏。
冲击测试的内容是将样品(PCBA)放在固定装置中并进行修复。 器件根据固定装置向下移动、为样本(PCBA)提供即时加速。
您能否提供此 FA 的此芯片的可靠性测试规格/条件? 谢谢。