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[参考译文] BQ24179:我们能否禁用 Vbus 自动测量和更新 VINDPM?

Guru**** 2513185 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24179

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1225003/bq24179-can-we-disable-the-vbus-automatically-measure-and-update-vindpm

器件型号:BQ24179

大家好、

   根据数据表、bq24179将测量 VBUS 并将 VIDPM 设置为 VBUS-0.7V (Vbus<7V)。 客户使用 type-C 作为供电和数据传输。 当他们连接他们的计算机 USB 端口在5V 电压,由于电力能力差,端口在 PC 上的电压达到4.1V,这将影响数据的传输。 您能告诉我如何禁用 Vbus 测量吗?

您自己的

不适用

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    您好、NaN:

    遗憾的是、无法阻止此 ADC 读取 VBUS 引脚。  但是、我不理解这里的问题。  如果需要、主机可以在上电后重写 VINDPM 值。

    问题是否是不良源极测试?  不良源与 VINDPM 测量和设置无关。

    此致、

    杰夫

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    尊敬的 Jeff:

       您能否详细介绍一下差源是独立的。

    糟糕的来源独立于 VINDPM 测量和设置。

       以下是它们的使用方法。

    您自己的

    不适用

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    您好、NaN:   

    充电器从 VAC 供电时的 POR 序列如下所述:(使用输入电源多路复用器)

     充电器唤醒后、存在适配器的比较器被激活、以监控 VAC 电压。

    在 VAC1 (或 VAC2)变得高于 VAC_PRESENT 之后  1ms、VAC 存在比较器的输出变为高电平、充电器提起内部1.8V 偏置来为模拟电路供电。

    再  2ms 后、ACDRV1导通 ACFET1-RBFET1 (或 ACDRV2导通 ACFET2-REBEF2)。

     VBUS 和 PMID 变为高电平、VBUS_PRESENT 信号变为高电平。

     在 VBUS_PRESNET 信号变为高电平100us 后、输入电流检测 FET QS 开启。

     在 VBUS 变为高电平大约150ms 后、REGN 导通。

     在 REGN 打开后、充电器立即开始检测不良的电源。 充电器大约需要30ms 才能完成电源不良检测、一旦检测到电源正常、充电器就会 PG 将/STAT 引脚下拉至低电平、并将 PG_STAT 寄存器位设置为1。

     在检测到良好的输入源后、ADC 会读取 ILIM_HIZ 引脚电压和 VBUS 电压、充电器将根据这些电压读数更新 IINDPM 寄存器和 VINDPM 寄存器。

    使用不良源代码的工作方式如下:

    REGN LDO 上电后、器件会检查输入源的电流能力。 输入源必须满足以下要求才能启动降压/升压转换器。 VBUS 电压低于 VVBUS_OVP 2. 拉 IPOORSRC (典型值为3.4V)时 VBUS 电压高于 VPOORSRC (典型值为3.4V 30mA)一旦满足条件、电源正常状态寄存器位 PG_STAT 将设置为高电平、并且发出/INT 引脚脉冲以提醒主机、则 PG 引脚变为低电平。 如果检测到 VBUS_OVP (上述条件1)、器件会在过压故障消失后自动重试检测。 如果检测到电源状况不佳(在拉 IPOORSRC 时、VBUS 电压降至 VPOORSRC 以下)、则器件每2秒重复执行一次电源品质不佳例程。 在连续7次故障后、器件会设置 EN_HIZ 位并进入 HIZ 模式。  需要适配器重新插接或 EN_HIZ 位切换才能重新启动器件操作。

    此致、

    杰夫