[参考译文] BQ78350-DEVICE-FW：R3固件中的温度和外部平均电芯电压出现异常行为

这听起来监测计中的电压 ADC 有缺陷、尤其是在内部温度测量不起作用的情况下。 有多少单元显示此行为？

ADC 也是我的猜测、但读数仍有波动、因此肯定会从 ADC 获得数据。

我们没有计算电路板的数量、因为我们认为这并不是一件大事、但我想今年大约有15块电路板存在这个问题、一共有50或60块电路板。  

去年、我们已对250多个电路板进行了编程、不会出现任何问题、但采用了 R2固件。

电路板未更换、仍来自同一生产批次。

电量监测计在电芯电压测量和内部温度测量之间共享 ADC。 如果仅外部测量值不正确、我会怀疑连接有问题(例如冷焊点)、但如果内部温度测量值也不正确、那么可能的原因是 ADC。

我没有在 R3中看到这样的问题、因此很可能是显示此问题的单元中的 ADC 出了问题。

情况的确如此。

我怀疑情况是这样的。 我们还将此芯片用于另一种类型的 BMS、我们也会在该芯片上看到此问题、故障数量基本相同。 他们是在另一个日期生产的、实际上是和另一批 BQ78350芯片一起生产的。  

编程时、这与腐败相关的可能性有多大？ 我们看到一个芯片成功编程、一段时间后就死了。 然后、我们需要使用.srec 再次对其进行编程。 最可能是由于腐败。 使用 EV2400工具进行通信时还有很多问题。

除非对 FW 进行了正确编程(电量监测计包含完整性信息、如果任何损坏、就不会进行编程)、否则电量监测计不会在监测模式下启动备份。 它将保持在 FW 更新模式、可以重新编程。

如果是这种情况、R3.0固件中似乎是一个错误。 TI 将采取哪些步骤来解决此问题、我们应该怎么做？

但是、无论如何、最好知道测量仪表在开始之前不能有一点差错。  

再说一次、TI 将做什么以及我应该做什么来解决该问题？  

我在 BQ78350芯片上测量了引脚、结果很有趣。

VEN (引脚12)会像预期的那样产生脉冲。

BAT (引脚7)为低电平。 使用万用表测量欧姆时、我在 GND 和 BAT 之间测量35欧姆。 我 连接到这个引脚的分压器有13K7的下拉电阻和300K 的上拉电阻、所以"短脉冲"肯定是由芯片引起的。  

温度大约偏离12度。

似乎 ADC 工作正常、但端口多路复用器似乎在挂起。

这一次是在第二次刷写.srec 之后出现的问题。 第一次闪烁没有什么问题。

编辑：

我断开了电池连接后又重新连接了电池、于是芯片完全掉电上电。 现在、输入在 GND 和 BAT 之间测量13K7。 另外、温度测量再次正常工作。 当使用示波器进行测量时、BAT 引脚上得到了一个很好的脉冲、这之前并不存在。

这是我最后需要的信息,以确保这是你的错误,而不是我们的错误。