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[参考译文] BQ25790:IINDPM/IBUS ADC

Guru**** 2527620 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25790, BQ25792

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1205945/bq25790-iindpm-ibus-adc

器件型号:BQ25790
主题中讨论的其他器件: BQ25792

向客户提出问题。

1) 1)目前 IINDPM 未工作(即使在系统侧施加3A 或以上的负载、电流为3A 或更多)。
2) IBUS ADC 的值为1mA。

顺便说一下、没有观察到误差。

是否有什么可能导致这些问题的原因?





此致、
香川市

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    尊敬的 Kaqawa:

    仅当 VBUS 与 PMID 之间的电流检测 FET 损坏时、我才看到这种情况。  我建议尝试另一个 IC。

    此致、

    杰夫

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    尊敬的 JEF-SAN:

    1) 1)是否有任何情况会导致 VBUS 和 PMID 之间的电流检测 FET 损坏?
      (例如 VAC 和 GND 之间的反向连接等)
      请告诉我、为避免评估期间出现故障、是否应采取任何预防措施。

    2) 2) 请告诉我在设置 ADC IBUS 操作时应注意的事项。

    在下面的主题中、提到了 bq25792定期报告不正确的 IBUS、IBAT、bq25790是否出现了同样的问题?
    如果可以、您能否提供权变措施和寄存器设置值来正确测量 IBAT 和 IBUS 电流?

    https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1020063/bq25792-adc-ibat-and-ibus-channels-are-intermittent-during-otg-operation/3771103?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=IBUS%2520ADC#3771103

    此致、
    香川市

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    尊敬的 Kagawa:

    关于1、VBUS 引脚上的过压可能会损坏输入电流检测 FET。

    关于2、ADC 使用上述相同的输入电流检测 FET。  如果损坏、则 ADC 无法正确报告(通常为0)。  2个已知的 ADC 问题是:

    A.运行平均值无法使用

    b. 12位分辨率设置报告过低、因此不再建议使用。

    此致、

    杰夫