[参考译文] BQ25120A：意外的开关模式和噪声、仅限某些单元

您好！

您能否分享以下内容、以便我们尝试确定正在发生什么情况：

-这是 您的板上 还是使用 EVM ,如果是您的板,您能分享原理图吗?

-您的测试条件是什么(即输入电压,输入电流限制,电池电压,任何施加到系统的负载)。

-您能在"坏"切换部件上共享器件寄存器值吗?

Unknown 说：

我订购了替换 BQ 部件、因此我也可以更改这些部件。 [/报价]

-请告诉我,如果更换"坏的"开关单元改变行为  

此致。

这在我们的定制电路板上：

测试条件为：

*输入/VBUS :具有100mA 电流限制的5V 电压源(由我们的测试 JIG 提供)

*电池:4.2V 电压源,带100mA 电流限制(这是由我们的测试 JIG 提供的,并且 BQ25充电在这些测试中被禁用,但4.2V 充电将不会发生,所以我认为不相关)。

*负载:10uF-40uF 去耦,1.75V @ 100uA 到300uA 电流(我尝试减少去耦电容,但没有区别)。

寄存器：

我需要几天时间才能拿到零件、因此我希望在此之前能有更深入的了解...

加油打气

我忘记要说的是、在这种情况下、V_unregulated 负载是10uA (开关运行于低功耗模式)、但未稳压负载变化至30mA 并不影响该问题。

感谢您提供更多信息、我将查看我是否无法确定任何原因 、或者我是否可以复制该行为。

此致。

我设法用新的替换了2个"坏的"BQ25部件、问题得以解决(没有对电路板进行任何其他修改)。  因此、一些 BQ25单元似乎运行不良。  为什么"不良"BQ25会生成几个聚集的脉冲、并且使电压升高到远远超过正常单元、这是有原因的吗？

尊敬的 Philip：

很难准确地解释纹波电流看起来是什么样的。 可能是降压、负载、电容、电感、电路板布局和焊接的函数。 我无法通过在几个不同单元上使用一些典型负载来再现任何一个纹波波波形。

从您共享的第二个波形看、似乎表明开始阶段具有较重的负载(开关频率更高)、每个周期的其余部分具有较轻的负载(频率更低)。 此外 、您的波形似乎表明开始时负载重、但在初始尖峰后振荡极小。 这似乎并不表示恒定的负载分布。 这就是在无负载、100uA 负载和30 mA 负载的情况下开关的典型情况。

无负载：

100uA：

30 mA：

您能否与还探测的开关节点分享这些波形以进行比较？ 此外、不同的纹波是否会在最终应用中引起不必要的行为？

此致。

你(们)好。

一致认为这个问题有很多变量、因此很难确定。

您的波形似乎与我们的第一个/良好波形基本相同(除了测量设置和设置中的一些负载变化引起的差异)。 您的图像中的垂直刻度是多少？  我无法找到您捕获的内容。  在我的第一个"好"波形中、我看到大约1mV 的波纹、在第二个波形中、我看到大约5mV 的波纹。  在您的图像中、似乎纹波振幅保持相当恒定、只有频率发生变化(正如预期的那样)。  振幅变化了5倍。

您是指探测电感器的两侧以进行比较？ "坏"单位现在已修复、因此我无法再进行任何"坏"测量。  

该纹波会在我们的应用中造成不必要的噪声、因为它在1KHz 至4kHz 的音频谱范围内呈现、并且很难滤除。

您提到我们的第二个波形可能在开始时具有较重的负载(因此会导致多个连续脉冲)、但仔细观察波形会发现情况并非如此。 如果负载突发引起额外压降、我预计会看到我的第二个波形中所示的聚集开关脉冲、但似乎每个脉冲都按预期提高了电压、但 BQ25逻辑会在"不良"单元上触发额外的脉冲。  我们的负载是 ARM M4、因此测量中的负载不是恒定的、但当 BQ25开始开关时、负载的可能性始终较高、几乎为零。

在两个不良器件更换为新的 BQ25以修复问题这一事实似乎表明良好和不良 BQ25器件之间的切换行为存在根本差异？  在开关逻辑中、正常单元看起来具有1mV 的分辨率、而不良单元的分辨率似乎为5mV。  

尊敬的 Philip：

Unknown 说：

您的图片中的垂直比例是什么？

图像采用交流耦合、刻度为10mV / Div。 直流值约为1.8V。

Unknown 说：

在我的第一个"好"波形中，我看到大约1mV 的波纹和第二个波形中的5mV 波纹。

我的错误是、1mV 的纹波与设置中的负载可变性比较起来有点困难、这现在更有意义。

Unknown 说：

您的意思是探测电感器的两侧以进行比较？

是的、通过探测电感器的 SW 侧、我希望确定开关与纹波之间的关系。

Unknown 说：

好的单位在开关逻辑中似乎具有1mV 的分辨率，而坏的单位则具有5mV 的分辨率。  [/报价]

我将按可能出现的器件差异或可能影响此纹波的其他因素来研究这款器件。 更换器件似乎表明存在一些器件差异。  

您能否分享您的原理图？  

此致、

胡安·奥斯皮纳

你(们)好。

期待您的发现。  我之前已经将原理图张贴在了上面...

加油打气

尊敬的 Philip：

没错、我将回顾一下、看看是否可以进行任何更改来改善纹波。

此致。

尊敬的 Philip：

似乎可以采取一些措施来减少该纹波对应用的影响：

Unknown 说：

几乎改变了 BQ 周围的所有组件,但它没有任何区别。

- 我不确定您是否尝试用相同的值替换组件,但更改电感,可能约1.5uH ,可能会减少纹波。

-在输出端增加一个电阻负载可以提供一个 RC 常量,将开关频率移到音频频带之外,但这会以一定的功效为代价,增加输出电容也会产生影响。

如果您找不到任何具有不需要的开关的单元、除了 SW 节点之外、可能还有助于探测电感器电流。

此致、

胡安·奥斯皮纳

你(们)好。

我没有尝试1.5uH 电感器、但如果我遇到另一个不良的电路板、我会尝试这样做。

由于功率限制、添加纯电阻负载是不可行的。  此外、我认为这不会有任何帮助、除非消耗更多的功率、因为在我的测试过程中、 问题发生在我们100uA 至350uA 的整个功率范围内。

输出电容器可以在一定程度上过滤噪声、但不会影响不良的 BQ25聚集开关。  除了我张贴的原理图中的10 μ F 外、我还额外添加了10-40 μ F、而不改变聚集开关模式。

当我有其他坏商品时、我会在此处发布。

与此同时、您是否还对不同 BQ25单元的表现为何会如此不同有其他见解？  生产或校准差异？

加油打气

菲利普

尊敬的 Philip：

我仍在根据器件差异研究此器件的可能原因、我不相信这会与生产相关、因此可能进行校准、但我目前无法真正确认这一点。

此致、

胡安·奥斯皮纳