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器件型号：BQ25792 工具与软件：
您好、我使用的是 BQ25792、我有某种程度上损坏了这个 IC、但我不确定是什么原因导致的、因为我尚未注意到一个模式。
一旦 IC 损坏、我可以在示波器上看到、输出(VSYS)在大约10秒内正常运行、然而、在一个小负载(100mA)下、在这一点后的几秒钟内、从其可编程的调节输出电压(~7.4V)缓慢下降、直到达到大约3V、纹波然后完全消失、并且没有更多输出。
之后、如果我关闭 VBAT 等待几秒钟再重新开启、会立即再次出现上述情况。 如果我等待几分钟,那么它将再次正常运行10秒,然后死亡。 现在发生在3 IC 上...
我在前一个工程中使用了此 IC、从来没有遇到过此问题、并且展示了相同的原理图、因此我只能假设我的测试方法或上游的东西损坏了它。 因为它适用于一整天的测试、直到我必须做一些事情并将其打破。
我能想象的唯一一件事是、在测试时(VBUS 或 VBAT 上无输入)、我正在 VOUT 轨上提供上游电压 、该电压会流入 IC 并损坏它(如下面原理图中的箭头所示)。 这是否会导致损坏、我是否应该在 VSYS 上使用一个二极管来防止这种情况？
这是我的原理图： 
这是基准 CH2 (即 VSYS)的特写图、一旦10秒后施加负载、它就会降至此值 
这是 CH2、首先从 VSYS 输出7.4V、负载为150mA 几秒钟、然后它下降并崩溃、然后当负载释放时、它会反弹回到稳定的7.4V 输出。 更换 IC 后、不再出现此问题、因此我知道不是负载。 
提前感谢您的任何帮助！
