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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1378923/bq40z80-bq40z80-smb-nack
工具与软件：
尊敬的 TI 团队：
我在测试过程中发现此错误。
请参阅随附的图。
发生了什么事件？
如何解决该问题？
请协助确认。
谢谢！
此致、
Peter
您好、Peter、
通常、当将损坏的 srec 文件编程到电量监测计中时、我们通常会看到该误差。 您是否可以使用相同的固件对该测量仪表进行重新编程、以查看其是否可解决问题。
Nick Richards
您好、Nick。
系统卡死。
它无法为重新编程解封。
我更改 IC 现在可以解决该问题。
但这不是正确的解决方案。
我想知道可能导致此问题的原因。
请再次查看此问题。
使用同一器件来说明系统卡住了。 这向我暗示、监测计可能处于 ROM 模式。 如果可以与电量计通信、则尝试使用高级通信并读取0x0D 字、然后告诉我电量计读回的值是多少。
您好、Nick
请参考图片。
.
嗨、Peter、
抱歉、我应该澄清一下、如何使用向您展示问题的 IC 执行此测试。 我看到这是在新更换的 IC 上完成的。
请再次检查图像。
感谢您的分享。 我来和固件团队讨论一下到底发生了什么。
我与固件团队讨论过、他们告诉我、这可能是 IC 的缺陷。 IC 可能会遇到 ESD 事件。
什么样的判断引导您的团队以这种方式思考？
我们分析了另一位客户最近看到的与此类似的问题、这就是我们得出的结论。
Unknown 说：系统卡滞。
您之前说过的这句话与其他客户看到的行为完全相同。
我认为 ESD 会导致 IC 损坏。
但是、我在密封 BQ40Z80后遇到了 NACK。
如果我不密封它并对 srec 重新编程、那么它可以 恢复正常。
我认为这不是 ESD 所致。
你怎么看？
IC 损坏可能会影响 IC 的存储器部分、进而影响电量监测计的指令闪存和/或数据闪存。
