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工具与软件：
我对有关此 IC 失效模式的任何信息感兴趣、尤其是输入电压传播情况(输出对输入短路)下的失效模式
尊敬的 Juan：
我们没有可能导致失效的特定失效模式或事件的数据、但是、如果这些数据与您的目的相关、则有一些有关随时间推移的一般失效可能性的数据。 器件的质量页面上提供了故障间隔平均时间和时基故障(MTBF/FIT)估算值。
但这不包括在器件正常运行之外发生的事件、仅包括基于时间的故障。
谢谢！
Sarah
