[参考译文] BQ76940：AFE 无法通信或给出错误读数。

尊敬的 Adarsh：

读数以何种方式失败？ 故障是否存在一致性？

此致、

Max Verboncoeur

在下面随附的图片中、我们可以看到连接到微控制器的 BatteryF_TEMPERATURE (1-5)显示正确的读数、而连接到 AFE 的 TS2和 TS3的 BatteryF_TEMPERATURE (6-7)分别显示-46 C 和12 C。 此问题已被多次发现。

尊敬的 Adarsh：

您能否共享原理图？

此外、您是否能够捕获热敏电阻两端的电压波形？

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

遗憾的是、我们无法捕获热敏电阻两端的电压波形。 下面是这些连接的方框图：

• NTC_(1-5)：连接至 MCU 的热敏电阻
• TS2和 TS3：连接到 AFE 的热敏电阻

如前所述、TS2和 TS3显示不正确的读数。

关于原理图、您能否提供一个电子邮件地址、以便我们将其发送给您？

此致、
Adarsh Verma

尊敬的 Adarsh：

我已在 E2E 上向您发送朋友申请。 接受后、您将能够私下向我发送包含 E2E Direct 消息的原理图。

您是否无法访问热敏电阻？ 您能够捕获 TS2和 TS3引脚的波形吗？

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Adarsh：

我看了一下原理图,我看不出什么不同寻常的东西。

对于 TSN 引脚波形、您可以在室温下获取它们、只需确保在进行故障测量的同时获取它们。

您可以尝试另一个调试步骤是暂时移除与热敏电阻并联的电容器、并查看行为是否有所改善。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

很抱歉迟到了响应。 下面附加了捕获的波形。 标准传导 EMI 测试结果

TS2 (带和不带)

  


TS3 (带和不带)
  

尊敬的 Adarsh：

它们的峰峰值电压看起来都为~1.5V。 读取时的原始 ADC 测量报告是什么(TS2_LO/HI 和 TS3_LO/HI)？

此致、

Max Verboncoeur

"1.5V 峰峰值"是正确的、但我们无法找到测量原始 ADC 测量值的方法。 我们仅从配套的 BQ Studio 应用程序中读取了"25C"。

在工作板上观察到这一点。  

尊敬的 Adarsh：

器件将 ADC 计数存储在 TSx_HI/LO 寄存器中。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

目前、我们将 AFE 与配套 IC 配合使用、因此我们不确定如何利用您请求的原始 ADC 值。 请告诉我们、这将很有帮助。  

此致、
Adarsh Verma

尊敬的 Adarsh：

为了先前的屏幕截图中显示的不良测量值、MCU 从器件中读取了哪些值？

评估软件正在获得正确的测量值这一事实让我认为、这是 MCU 获取数据或解释数据的方式存在的问题。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

如原理图中所示、TS2和 TS3与 AFE 相连接、AFE 随后与配套 IC 相连接。 MCU 不参与该特定连接。

此致、

Adarsh Verma

您好、Adarsh：

您可以直接连接到 BQ76940并使用其自己的评估软件(可在 BQ76940产品页面中找到)。 该评估软件还应该能够提供原始 ADC 数据。 我建议您这样做以获取原始数据。

此致、

Luis Hernandez Salomon

尊敬的 Luis：

很抱歉我的答复出现延误。 下面是我们在将 AFE 与指定软件连接后记录的原始 ADC 值。 这些值来自故障 IC。

此致、

Adarsh Verma

您好、Adarsh：

这些值不是十六进制值、因此不会显示原始数据。 此外、这些测量看起来都很奇怪。 您能获取评估软件的日志并与我们分享吗？

这是否只会在 IC 出现故障时发生？ 如果您更改 IC、它会恢复正常吗？

此致、

Luis Hernandez Salomon

尊敬的 Luis：

对延迟响应深表歉意；我们将很快分享日志。 要解决您的问题、是的、此问题发生在 IC 有故障时、并且更换 IC 可以恢复正常功能。

我还有一个问题。 在我们的设计中、我们使用热敏电阻读取电池上的温度读数。 这些热敏电阻上有一个薄膜。 如果它们对电池短路、则将向引脚[(18、15)、(10、13)]施加大约8-12伏的电压、这可能会导致损坏。 如数据表中所述、这些引脚上的最大输入电压为3.6V。 我想了解这可能会对 AFE 造成哪些具体损害。

感谢您的帮助。

此致、

Adarsh Verma