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[参考译文] BQ76952:bq76952/SCD/测试模式

Guru**** 2390905 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76952

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1405784/bq76952-bq76952-scd-test-mode

器件型号:BQ76952

工具与软件:

你好?

我对 Bq76952 SCD 函数有疑问。

我正在测试模式下使用 FET。

我执行了 SCD 测试、检测到 SCD 且 C/D FET 已关闭、但它恢复并再次开启。

如果连续提供 SCD 电流、C/D FET 将重复关闭/开启。

我会在下面将我的设置发送给您、并请指导我进行评估。

Mfg 状态= 0x0066
分流器 R = 0.25m Ω
SCD 阈值= 125mV
延迟= 105us

PROTECT A CFET 配置位7 = 1;(SCD)
PROTECT A Dfet Cfg 位7 = 1;(SCD)

我将使用 ADC 测量 FET 栅极上的电压、同时检查 PACK 电压测量值。

我还有其他问题。
1.当进行 SCD 诊断且 Bq76952自行打开 FET 时会发生什么情况?
2.当发生 SCD 诊断时、MCU 必须将报警状态写为1来清除诊断、是否可以自动清除?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Sungjun、您好!

    1.可以预期看到这些结果、因为器件可以在中给出的可编程延迟后自主恢复 Protections:SCD:Recovery Time 该器件是否配置为自主 FET 控制 . 如果您希望器件在不同的条件下恢复、则可能需要改用 SCDL 保护。  更多相关信息、请参阅 第5.2.6节放电短路保护 功能和特性

    2.报警状态将锁闭、因此需要手动清除。

    此致、
    Alexis