[参考译文] BQ27426：密封件不生效

尊敬的 Robert：

请让我再解释一下这个问题：

代码中的第一个任务：

我们遵循 TRM 的"4.2 Chemistry Profile Change Example"来设置 chemID、

我们设置的 chemID 当前为0x3142。

代码中的第二个任务：

也可以通过配置"OpConfigD"来设置 chemID。

在配置标准数据存储器寄存器之前、

图1中的步骤。 以下是快速入门指南中的"更新默认测量仪表参数配置的流程图"。

但是、当尝试执行以下行操作时、错误已发生：

REt = bq27426_write (di、BQ27426_DM_class、buf->class、true)；

 此时、ret 等于0x8202。

那么、在这2个任务之间是否需要注意？

谢谢！

Kyle。

您好 Kyle：  

在尝试写入测量仪表之前、您是否解封了测量仪表？  

此致、  

Robert。  

尊敬的 Robert：

以下是 TRM 中所述的访问步骤、

我们按如下编程的相关代码、

请帮助检查、谢谢。

将 chemID 设置为0x0008：

静态 int16_t bq27426_battery_set_chemid (结构 bq27426_device_info *di)
｛
  BQ27426_log_info ("[%s]：start"、__func__)；

  int16_t ret = bq27426_BATTERY_UNSEAL (di)；
  if (ret < 0)
  ｛
    BQ27426_errlog ("[%s]：解封失败"、__func__)；
    回流塔；
  }

  RET = bq27426_write (di、BQ27426_REG_CTRL、sub_CMD_CHEM_ID、false)；
  if (ret < 0)
  ｛
    BQ27426_errlog ("[%s]：SENT CHEM_ID subcommand failed"、__func__)；
    回流塔；
  }

  RET = bq27426_battery_set_cfgupdate (di)；
  if (ret < 0)
  ｛
    BQ27426_errlog ("[%s]：设置 CFG 失败"、__func__)；
    回流塔；
  }

  RET = bq27426_WRITE (DI、BQ27426_REG_CTRL、0x32、false)；  // 0x3142
  if (ret < 0)
  ｛
    BQ27426_log_error ("[%s]：写入 Chem_ID 失败"、__func__)；
    回流塔；
  }

  nrf_delay_ms (1)；
  RET = bq27426_battery_soft_reset (di)；
  if (ret < 0)
  ｛
    BQ27426_errlog ("[%s]：软复位失败"、__func__)；
    回流塔；
  }

  nrf_delay_ms (25)；
  RET = bq27426_read (di、0、false)；
  if (ret < 0)
  ｛
    BQ27426_log_error ("[%s]：Get Chem_ID failed"、__func__)；
    返回-1；
  }

  bq27426_BATTERY_SEAL (di)；

}

并调用以下函数：

static void bq27426_battery_set_config (结构 bq27426_device_info *di、
  结构 power_supply_battery_info * info)
｛
  结构 bq27426_dm_buf bd = BQ27426_DM_BUF (di、BQ27426_DM_DESIGN_CAPACITY)；
   结构 bq27426_dm_buf bt = BQ27426_DM_BUF (di、BQ27426_DM_terminate_voltage)；
   结构 bq27426_dm_buf bo = BQ27426_DM_BUF (di、BQ27426_DM_OPCONFIGD)；
   struct bq27426_dm_reg * reg =&di->dm_regs[BQ27426_DM_OPCONFIGD]；
   更新了 Bool；
   bool 相同= true；
   uint16_t * prev；
   uint8_t opcfd；

   BQ27426_DbgLog ("[%s]：start"、__func__)；
   如果(bq27426_BATTERY_UNSEAL (DI)< 0)
   ｛
      返回；
   }

   if (info->charge_full_design_uAh！=-EINVAL &&
   info->energy_full_design_uwh！=-einval)
   ｛
      bq27426_battery_read_dm_block (di、&bd)；

最后、函数中发生了错误：

static int16_t bq27426_battery_read_dm_block (struct bq27426_device_info *di、
结构 bq27426_dm_buf * buf)
｛
  int16_t ret = 0；

  if (！diag_log)
  ｛
    BQ27426_DbgLog ("[%s]：start"、__func__)；
  }

  buf->has_data = false；

  REt = bq27426_write (di、bq27426_DM_class、buf->class、true)；  //此处出错
  if (ret < 0)
  ｛
    转出；
  }

...

此致、

Kyle

尊敬的 Robert：

还有一种现象可能对这种情况也很重要。

正如我之前的描述、 在我们对 chemID 进行编程 "ret = bq27426_write (di、BQ27426_REG_CTRL、0x32、false)；  // 0x3142"后、以下行是异常的：

REt = bq27426_write (di、BQ27426_DM_class、buf->class、true)；

但是、重新启动系统后、此问题将消失。

因此、我们发现、当我们对电池进行测试并重新安装电池时、可能会出现重复的问题。

此致、

Kyle

您好 Kyle：  

我无法在我的终端测试您的代码以确定您的代码是否正确。 您是否能够使用 bqStudio 尝试与电量监测计通信？

此致、  

Robert。  

尊敬的 Robert：

遗憾的是、我们没有 EVM。

因为通过以下步骤设置 chemID：

WR 0x00 0x32 0x00；

通过以下步骤应用新的 chemID：

WR 0x00 0x42 0x00；

RD 0x06 Flags_register；

然后按照以下步骤执行 Seal Process：

WR 0x00 0x20 0x00；

但在执行上述步骤并解封过程后、发生了以下步骤错误：

WR 0x3E 0x52；

所以我们不能试图把这个问题集中在这些步骤之间吗？

谢谢！

Kyle