[参考译文] BQ76952：BQ76952 DSG 引脚功能问题

您好、Hitesh：

我们已经看到、SRP 和 SRN 引脚上的瞬变会使它们超过绝对最大额定值、从而导致 AFE 重新启动。 我们建议在这些引脚上放置0.1 μ F 电容器、以帮助抑制这种噪声。

此致、
Alexis

如图所示、我们之前使用了 C78和 C79 1nF 去耦电容器、但现在我们必须将值更改为220nF。
由于高电容、它可能会导致任何问题？

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此外、DSG 引脚信号不会立即下降、因此在短路期间、流经电容器的峰值电流为900A 至1500A。
DSG 引脚的上升时间为30us。 MOSFET 关断时间为15-20us。
请指导我减少此问题、以免损坏 MOSFET。

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还有一点、在通过 BMS 以60A 放电1小时后、我再次进行短路测试、更新后的配置失败了。 此问题无法解决、它显示了相同的行为。

您好、Hitesh：

去耦电容器过去使用的是0.1uF。 它可能会使响应时间稍微变慢、因为会有一个更高的 RC 时间常数。 但是、我们以前没有看到这是一个很大的问题。 您是否尝试过使用0.22uF 进行此测试？

您能解释一下显示的波形是什么吗？

FET 在测试过程中的波形是什么？ 哪个 FET 会损坏？ 只使用 DSG FET？

短路期间的 FET 损坏可能有多种原因、此处是一个讨论以下主题的 E2E：

• 如何调试短路测试导致的 FET 故障

此致、

Luis Hernandez Salomon

我已经在初始阶段使用0.22uF 和1uF 进行了测试、它将通过短路测试、但在 DUT 在1小时对60A 负载放电后、它在短路测试中失败。

我要展示的波形是 MOSFET 栅极电压 Vgs、我无法理解 DSG 信号上升时间为什么为30uS、我甚至将电荷泵电容器从1uF 更改为100nF、但 AFE 的 DSG 信号没有明显改善。  

DSG 引脚和 D-MOS 放电信号表现出相同的行为、两者均显示30us 的上升时间、然后关闭 BMS 的 D-MOS。
我已经讲过  E2E  、如何调试由于短路测试而导致的 FET 故障 、但没有任何帮助。

此外、我们是否可以在串联 SRP 和 SRN 中使用铁氧体、而不是在 R32和 R46中使用100 Ω？

请安排通话、以便清除所有疑问。

您好、Hitesh：

我不明白1小时和初始测试之间的区别是什么。  

• 您是否有并排显示初始阶段以及一小时放电测试后行为的波形？
• MOSFET 的下降时间将取决于关断电路。
  • 您是否使用了本地关断电路？
• 您是否有 DSG 电路原理图？
• 损坏了哪个 MOSFET？ 这里是否有有关故障的更多详细信息？

铁氧体磁珠可与100 Ω 电阻器串联使用、以便进一步滤波。 我根本不会移除100欧姆的电阻器。

此致、

Luis Hernandez Salomon

因此、我要求安排与您的团队进行沟通、以便我向您展示我们的原理图和 PCB 文件、并帮助我们找出 PCB 或原理图存在的问题。

您好、Hitesh：

接受我的请求后、请通过 DM 分享您的原理图和 PCB。

此致、
Alexis

我在聊天中共享了数据、请仔细阅读。

您好、Hitesh：

感谢您共享您的文件。 请给我的团队成员和我一些时间来审核。

此致、
Alexis