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[参考译文] BQ40Z50-R2:无法启用 PCHG FET

Guru**** 2557110 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25798, BQSTUDIO, BQ40Z50-R2, BQ40Z50

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled

器件型号:BQ40Z50-R2
主题中讨论的其他器件:BQ25798BQSTUDIO、、、 BQ40Z50

工具与软件:

您好!我们收到一份客户退货、其中附有商品无法充电的说明。 我重复了该问题、发现我们的充电器(BQ25798)会引发连续的 VBAT OVP 故障;VPACK 的以下捕获证实了这一点:

这通常是 CHG FET 和 PCHG FET 均未关闭的标志、因此我连接了 BQStudio 以在故障模式下查询电量计状态。 没有充电故障(XCHG = 0)、唯一的安全状态(SS)故障是欠压(CUV = 1)、应该符合以下预期:

寄存器映射显示电量监测计在 PRECHARGE 模式(PCHG = 1)下运行、在电池包电压约为2.3V 且预充电阈值为2.5V 的情况下是可以预期的。不过、当我探测电量监测计的 PCHG 引脚时、该电压仅为50–100mV;该电压太低、无法启用 PCHG FET:

然后、我发送了 FETControl 命令(0x0022)以禁用 FET 的 FW 控制、然后发送 PrechargeFETToggle (0x001E)以强制启用 PCHG FET。 制造状态寄存器从0x0018 (FET_EN = GAUGE_EN = 1)更改为0x0009 (FET_EN = 0、GAUGE_EN = PCHG_TEST = 1)、但监测计的 PCHG 引脚与上述相同保持50mV 至100mV。

然后、我 再次发送了 PrechargeFETToggle (0x001E)以强制 禁用 PCHG FET。 制造寄存器更改为0x0008 (FET_EN = PCHG_TEST = 0、GAUGE_EN = 1)、监测计的 PCHG 引脚上拉如下:

我的初始假设是、这里存在某种类型的硬件问题、对于电量监测计无法驱动 PCHG FET 的栅极的原因、是否有任何其他解释?

我们的电池组原理图与 BQ40Z50-R2数据表的图9-1相同、根据1S 设计的数据表进行了修改。 我们的 golden 文件链接如下: 6683.gg.csv

如果我能提供任何其他信息、请告知我。 提前感谢您!

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    尊敬的 Jeff:

    [报价 userid="595304" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled "]

    然后、我 再次发送了 PrechargeFETToggle (0x001E)以强制 禁用 PCHG FET。 制造寄存器更改为0x0008 (FET_EN = PCHG_TEST = 0、GAUGE_EN = 1)、监测计的 PCHG 引脚上拉如下:

    [报价]

    完成此操作后、FET_EN 是否仍被清除? 如果发送复位、性能是否有任何变化?

    此外、此时 XDSG 是否仍处于设置状态?

    此致、

    Anthony

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    您好、 Anthony—感谢您的及时支持! 我是这个问题的根本原因、但我仍然需要一些帮助来实施解决方法。 回答您的问题:

    [报价 userid="567157" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled/5524312 #5524312"]完成此操作后、FET_EN 是否仍被清零? 如果发送了重置、性能是否有任何变化?[/QUOT]

    我可以确认 在我 发送 PrechargeFETToggle 命令(0x001E)以手动控制 PCHG FET 时 FET_EN 是否保持清零。 在本实验之前、我发送了  FETControl 命令(0x0022)以启用手动控制。

     如果我发送 DeviceReset 命令(0x0041)、该行为不变。

    [报价 userid="567157" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled/5524312 #5524312"]

    此外、此时 XDSG 是否仍处于设置状态?

    [报价]

    XDSG 在手动模式(FET_EN = 0)和自动模式(FET_EN = 1)下进行设置;这是预期行为、因为电量监测计处于 CUV 状态。 XCHG 仅 在手动模式下设置(FET_EN = 0)、而 CHG 和 PCHG FET 均被禁用(CHG_TEST = PCHG_TEST = 0)。

    然而、在进一步研究这一点后、我意识到 PCHG FET 实际上是 PMOS、并且可以理解地将数据表栅极驱动电压指定为 VCC - VPCHG。 因此、 预计会在手动模式(FET_EN = 0)和自动模式(FET_EN = 1)下测量栅极驱动电压、并且电量监测计按设计运行。

    然后、问题变为为什么 BQ25798无法将电流推入电池并反复触发 OVP 故障、即使 PCHG FET 导通也是如此。

    重拳将预充电限流电阻器( BQ40Z50-R2数据表中图9-1中的 R1)上的 I 短路、电池可以正常充电。 我松散地怀疑 BQ25798可能在 PRECHARGE 模式下充当弱恒流源、并且无法克服 R1。

    这种现象似乎特定于 BQ25798、因此我将针对该主题开始另一个主题。 同时、我们需要询问一些特定于包装本身的问题:

    [1] 我们仍然不知道电池如何自放电至2.3V。CUV 保护(2.8V)似乎按预期工作、因此任何泄漏路径都必须位于监测计的上游。

    我松散地怀疑一个或多个电芯 可能有缺陷、会将这些电芯退回供应商进行 FA;无需 TI 进一步支持。 但是、如果您根据与其他客户的体验有任何其他想法、请告诉我。

    [2]  与此同时、我们还存在这样一个问题:当电池组和 BQ25798均处于预充电模式、并且 R1处于两者之间时、无法为电池组充电。

    我认为一种权变措施是PCHG_COMM FET Options 寄存器中设置、以便在 PRECHARGE 模式下使用 CHG FET、从而有效地绕过 R1。 当我在 BQStudio 中设置该字段并点击写入按钮时、BQStudio 会返回读取验证错误、并且该字段保持清零。

    是否有任何序列我必须按照设置PCHG_COMM,或是否有任何条件下它不能设置? 或者、是否可以使用任何其他权变措施来有效地绕过监测计的预充电路径?

    再次感谢您的持续支持-如果我可以提供任何其他信息、请告知我。

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    尊敬的 Jeff:

    [报价 userid="595304" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled/5525854 #5525854"]

    [1] 我们仍然不知道电池如何自放电至2.3V。CUV 保护(2.8V)似乎按预期工作、因此任何泄漏路径都必须位于监测计的上游。

    我松散地怀疑一个或多个电芯 可能有缺陷、会将这些电芯退回供应商进行 FA;无需 TI 进一步支持。 但是、如果您根据与其他客户的体验有任何其他想法、请告诉我。

    [报价]

    我同意你在这里的想法。 由于 CUV 保护功能被怀疑存在问题并且禁用了 DSG FET、因此不应存在流向电池组连接的电流、这意味着根本原因很可能是 FET 电池连接侧的某处。  

    [报价 userid="595304" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled/5525854 #5525854"]

    [2]  与此同时、我们还存在这样一个问题:当电池组和 BQ25798均处于预充电模式、并且 R1处于两者之间时、无法为电池组充电。

    我认为一种权变措施是PCHG_COMM FET Options 寄存器中设置、以便在 PRECHARGE 模式下使用 CHG FET、从而有效地绕过 R1。 当我在 BQStudio 中设置该字段并点击写入按钮时、BQStudio 会返回读取验证错误、并且该字段保持清零。

    是否有任何序列我必须按照设置PCHG_COMM,或是否有任何条件下它不能设置? 或者、是否可以使用任何其他权变措施来有效地绕过监测计的预充电路径?

    [报价]

    我认为、此处使用 CHG FET 进行预充电是解决 PCHG 电阻器问题的可行选择。 如果您可以为我检查几个方面:

    -测量仪表是否处于完全访问解封状态?

    此时自动刷新是否打开? (如果是、请将其关闭)

    -如果试图更改其他数据闪存参数,是否会发生这种情况?

    您还可以尝试将器件置于上电复位状态、或重新刷写.srec (如果没有任何其他更改)、以查看行为中是否有任何变化。

    此致、

    Anthony

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    您好、 Anthony—感谢您的持续支持;我与您保持一致 [1] .

    最大问题 [2] —据我所知,这一包是在一个未封封和完全访问状态。 整个寄存器视图如下所示;如果我被弄错、请告知我:

    具体错误如下所示:

    我在已知良好的电池组上设置了该字段、写入成功。 是不是在电量监测计处于 PRECHARGE 模式时无法修改某些与预充电相关的字段、还是在设置安全状态字段时无法写入闪存? 现在还有一个问题:

    [3] 根据我的理解、设置PCHG_COMM只影响在 PRECHARGE 模式下启用的 FET。 PCHGC 保护机制仍处于运行状态、即使在使用 CHG FET、也依赖于预充电电流阈值、延迟和恢复字段。

    如果我误解了、或者我可以提供任何其他信息、请告诉我。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jeff:

    关于 [2] —据我所知、电池组处于未密封和完全访问状态

    已确认。 感谢您发送图像。

    我在已知良好的软件包中设置此字段、写入成功。 是不是在电量监测计处于 PRECHARGE 模式时无法修改某些与预充电相关的字段、还是在设置安全状态字段时无法写入闪存? 现在还有一个问题:

    我认为、如果测量仪表处于完全 UNSEALED 状态、那么即使触发了固件保护、也应该能够对其进行写入。 我在这些图像中看到、bqStudio 无法正确获取器件的固件版本(可通过左侧 bq40z50下的 fffffffffa5序列看到)、连接已知良好的电池组时会在此处填充什么内容?  

    此致、

    Anthony

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    您好、 Anthony—感谢您的最新消息;这是很好的消息。 与写入闪存相关的电源要求如何? 执行一个写入是否需要最低的 VCC 级别? 可能监测计会保护自身免受损坏、或者内部写入失败。

    我问这个问题的原因是、在这种情况下、VCC 上的电压相对较低(2.2–2.4V)、并且由于我们的恒流充电器存在不相关的问题、PACK 上实际上没有电压。 我尝试的已知良好的电池组不存在任何问题。

     BQStudio 中所示0xFFA5的变化是一个很好的注意事项、但我认为这是一个红色错误。 即使已知良好的电池组也会出现这种情况、我松散地怀疑这是 BQStudio 读取 BQ40Z50的器件 ID 的方式上 的错误。

    值 0xFFA5是 ManufacturerAccess 寄存器(0x00)在 发送 FirmwareVersion 命令(0x0002)后可能返回的特殊值。 我认为这是 BQ40Z50中隐藏的旧功能的一部分、我记得我们在 本线程中遇到过它

    再次感谢您的持续支持-如果我可以提供任何其他信息、请告知我。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jeff:

    [报价 userid="595304" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1439940/bq40z50-r2-pchg-fet-cannot-be-enabled/5529627 #5529627"]

    您好、 Anthony—感谢您的最新消息;这是很好的消息。 与写入闪存相关的电源要求如何? 执行一个写入是否需要最低的 VCC 级别? 可能监测计会保护自身免受损坏、或者内部写入失败。

    我问这个问题的原因是、在这种情况下、VCC 上的电压相对较低(2.2–2.4V)、并且由于我们的恒流充电器存在不相关的问题、PACK 上实际上没有电压。 我尝试的已知良好的电池组不存在任何问题。

    [报价]

    有、此阈值是下面所示的有效更新电压、为3500mV。 请尝试升高 VCC 的电压、然后查看此错误是否仍然明显:

    此致、

    Anthony

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    您好、 Anthony—感谢您的最新消息;对所有方面都表示感谢。

    在返回给供应商的过程中、我必须先使用原始电池组、因此不能进行最后的测试。不过、在这种情况下、我们可以非常有信心低压是无法写入闪存的原因。

    再次感谢您的持续支持、如果我还有其他问题、我将发布新主题。 祝您周末愉快!