主题中讨论的其他器件:BQ25798、 BQSTUDIO、、、 BQ40Z50
工具与软件:
您好!我们收到一份客户退货、其中附有商品无法充电的说明。 我重复了该问题、发现我们的充电器(BQ25798)会引发连续的 VBAT OVP 故障;VPACK 的以下捕获证实了这一点:

这通常是 CHG FET 和 PCHG FET 均未关闭的标志、因此我连接了 BQStudio 以在故障模式下查询电量计状态。 没有充电故障(XCHG = 0)、唯一的安全状态(SS)故障是欠压(CUV = 1)、应该符合以下预期:

寄存器映射显示电量监测计在 PRECHARGE 模式(PCHG = 1)下运行、在电池包电压约为2.3V 且预充电阈值为2.5V 的情况下是可以预期的。不过、当我探测电量监测计的 PCHG 引脚时、该电压仅为50–100mV;该电压太低、无法启用 PCHG FET:

然后、我发送了 FETControl 命令(0x0022)以禁用 FET 的 FW 控制、然后发送 PrechargeFETToggle (0x001E)以强制启用 PCHG FET。 制造状态寄存器从0x0018 (FET_EN = GAUGE_EN = 1)更改为0x0009 (FET_EN = 0、GAUGE_EN = PCHG_TEST = 1)、但监测计的 PCHG 引脚与上述相同保持50mV 至100mV。
然后、我 再次发送了 PrechargeFETToggle (0x001E)以强制 禁用 PCHG FET。 制造寄存器更改为0x0008 (FET_EN = PCHG_TEST = 0、GAUGE_EN = 1)、监测计的 PCHG 引脚上拉如下:

我的初始假设是、这里存在某种类型的硬件问题、对于电量监测计无法驱动 PCHG FET 的栅极的原因、是否有任何其他解释?
我们的电池组原理图与 BQ40Z50-R2数据表的图9-1相同、根据1S 设计的数据表进行了修改。 我们的 golden 文件链接如下: 6683.gg.csv
如果我能提供任何其他信息、请告知我。 提前感谢您!


