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[参考译文] LM74502EVM:无法可靠地启动(热插拔或 Vin >16V)

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: LM74502EVM, LM5069
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1440634/lm74502evm-not-starting-up-reliably-hot-swap-or-vin-16v

器件型号:LM74502EVM
主题中讨论的其他器件: LM5069

工具与软件:

LM74502EVM 存在问题、在某些情况下、栅极电压会无限期复位。

输入电压:24V
负载:124欧姆电阻
与热电源内联的切换开关以模拟热插拔
R9与4.64k 交换、以将 OVLO 设置为~28V

通道1:VIN
通道2:Vgate
通道3:Vov

该问题 有时在没有测试热插拔的情况下仍然存在(使用工作台电源打开按钮、~4ms 上升时间)。 当负载代表我们的用例(1500uF、~0.2A 稳态负载)时、也会存在该问题。 未连接负载时不存在该问题。 当输入电压大约为16V 或更低时、尽管只需几个周期的复位、但该器件似乎能够保持稳定。

每次栅极复位时、 Vin、GATE、OV 和其他引脚上都会出现高频振铃。 我试过各种修改、没想到:断开 OV、向 OV、EN、VS 添加旁路电容器(100nF)、向 VS 添加 RC 滤波器(R2 = 10k、C7 = 1uF)、更改 C4值、移除软启动电容器(C1)、添加15 Ω 栅极串联电阻器等

通道1:VIN
通道2:通道
通道3:Vcap
通道4:Vout

如果有任何想法、将不胜感激。 我还在考察 LM5069、该器件是否更适合24V 热插拔应用?

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    尊敬的 Mitchell:

    您是否能够在移除 MOSFET 的情况下测量 VIN、VOUT、VGATE、VCAP?

    此致、

    Shiven Dhir

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    通道1:VIN
    通道2:输出电压
    通道3:Vgate
    通道4:Vcap

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    在热插拔事件下进行相同的测量(切换开关)

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    尊敬的 Mitchel:

    器件在没有 FET 的情况下可以正常工作。 您是否使用从 TI store 购买的 EVM 或者进行了除 R9之外的一些修改?

    此致、

    Shiven Dhir

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    目前、R9为0r、移除了 R7以禁用 OV、其他一切内容均已返回至原始状态。  

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    尊敬的 Mitchel:

    您是否可以将 EVM 配置为与看到问题时相同的状态、然后移除 FET 并进行测试?

    此致、

    Shiven Dhir

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    我看到我测试的所有配置(包括当前配置)都有问题。

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    尊敬的 Mitchell:

    电路板在这里似乎工作正常。

    此致、

    Shiven Dhir

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    之前没有 MOSFET、那么 MOSFET 可能是有问题的吗?

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    嗨、Mithcell:

    当您尝试在具有200mA 负载的情况下将 FET 导通为1.5mF 电容器时、是否可能 FET 损坏。 您只能在组装 Q4、Q3短接的情况下进行测试吗?

    此致、

    Shiven Dhir