[参考译文] BQ27Z746：异常寿命数据

您好、Yichong：

启用 Impedance Track 算法(在 Operation Status 中设置[QEN])时、最大值
通过 平均电流测量的放电方向的电流 在 A 中持续更新
寿命保留的 RAM 位置。 为防止闪存磨损、此 RAM 仅更新 Lifetime Max DSG
数据闪存中的电流、使用以下3种情况之一：
1.只要内部 RAM 位置大于(-)寿命最大 DSG 电流60秒。
2.如果内部 RAM 位置大于(-)寿命最大 Dsg 电流至少要大于100 mA。
3.任何其他寿命数据在数据闪存中均已按照与第1步和第2步相同的标准进行更新
各自的 RAM 和闪存位置。

此致、

Adrian

嗨 Adrian,谢谢你的回应,我试图重现这种 现象,但仍然不能做到这一点,请 给我一个建议如何重现,下面是测试步骤:

1、重置寿命;

2、以0.5A 电流放电1分钟、设置关断、然后唤醒、结果：最大放电电流-502mA、最大 平均 Dsg 电流-502mA；

3、以1A 电流放电1分钟、设置关断、然后唤醒、结果：最大放电电流-1004mA、最大 平均 DSG 电流-996mA；

4、以 1.2A 电流放电1分钟、设置关断、然后唤醒、结果：最大放电电流-1203mA、最大 平均 Dsg 电流-1203mA；

5、以 0.2A 电流放电1分钟、设定关断、然后唤醒、结果：最大放电电流-1203mA、最大 平均 Dsg 电流-1203mA；

您好、Yichong：

尝试发送大电流脉冲。 因此、在100mA 下放电、然后具有持续2秒的-1A 脉冲、间隔为每5秒。 对此进行测试、看看是否可以复制这些结果。

此致、

Adrian

您好、 Adrian：

     感谢您的反馈,我以这种方式进行测试,无法 复制这些结果。 下面是日志数据,请帮助检查.

e2e.ti.com/.../lifetime-evaluation.log

您好、Yichong：

我需要浏览我们的固件代码、以查看是否对能够复制此现象有任何进一步的见解。

此致、

Adrian

尊敬的 Adrian：

好的、期待您的反馈。

您好、Yichong：

请允许延迟回复、因为本周是美国的假日。

此致、

Adrian

您好、Adrian：

 当然,希望你能享受你的感恩节。

您好、Yichong：

直到 FW 团队下周回到办公室后、我才能查看 FW 代码。 同时、在电量监测计处于密封和解封状态时再次尝试该测试。 有时、当电量监测计处于 UNSEALED 状态与 SEALED 状态时、FW 的行为会有所不同

此致、

Adrian

您好、Adrian、希望您做得好、您能与 FW 团队讨论并提供一些反馈吗？

您好！  

我们正在与 FW 团队一起研究这一点。 平均而言、您是否能够在监测计处于密封和解封状态时执行测试？  

此致、  

Robert。  

你好 罗伯特,谢谢你的反馈,我已经进行了测试时密封和解封,但他们两个执行相同的( 寿命最大放电电流高于寿命最大 平均 DSG 电流)

您好、Yichong：

FW 团队已积压、他们仍在查看我的申请。 理想情况下、如果您能够在多个 IC 上重现此问题、这可以帮助固件团队进行研究。  

此致、

Adrian

尊敬的 Adrian：  

不幸的是,我已经尝试了几次,但 不能 在其他 IC 上重现这个问题, 所以我真的需要你的帮助,以找出根本原因。