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[参考译文] BQ40Z80:无法打开充电和放电 MOS。

Guru**** 2539500 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ40Z80, EV2400

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1459844/bq40z80-unable-to-turn-on-the-charge-and-discharge-mos

主题中讨论的其他器件:BQ40Z80EV2400

工具与软件:

vProject 背景:BQ40Z80用于检测和保护5节串联电池。 使用 EV2400进行芯片调试时发现、充电和放电 MOS 不能开启。 闪存已配置5节串联电芯且 FET_EN = 0、并已进入手动 MOS 关闭/开启模式。 5节串联电池总共由18伏供电、在30引脚(BAT)和31引脚(PBI)引脚上检测到17.7伏。 DSG_TEST 和 CHG_TEST 指示激活、但 MOS 仍然无法打开。 如何解决此问题? 非常感谢 TI 的工程师!

随附的是主机和原理图:的屏幕截图





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    您好、Henry:

    如果启用 FET_EN 并且尝试超过 CHG Current Threshold 或 DSG Current Threshold、这种情况下的结果是什么?

    此致、

    Anthony

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    大家好、Anthony、我已经尝试过两次:

    第1步:I ENABLED FET_EN = 1。 此时、向 PACK+和 PACK-施加直流电压时、充电和放电 MOS 无法导通、环路电流为0。

    步骤2:如下图所示、在使用直流电源和电子负载的情况下、2A 电流被强制流过 RESN 电阻、充电放电 MOS 仍然不能断开。

    此致、

    亨利

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    您好、Henry:

    我看到此时设置了 FUSE 位、此时是否触发了可能导致该位设置的任何保护或永久故障?  此时 FUSE_EN 似乎也被清除。

    此致、

    Anthony