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器件型号：CSD18533KCS 工具与软件：
我需要有关客户使用产品编号 CSD18533KCS (晶体管、MOSFET)时遇到的问题的帮助。 我们获得了许多需要更换此组件的退货、因此为了找出根本原因、我们发送了有缺陷的组件和一个从未使用过的组件到第三方实验室进行故障分析。 结论是、器件由于源极引线键合到裸片上的电气击穿而发生故障。 击穿可能是芯片损坏导致的、即由于源键合线的尺寸而引起的键合 cratering。 实验还注意到、控制样本(新的、从未使用过的元件)显示了不同的键合方向、这表明在某个时间点可能已进行了设计更改、以便通过将键合负载对角线分散到源触点而不是平行的方式来纠正问题。
我需要知道何时实施了设计更改以及更改的原因。
请在我们有客户需要答案时尽快提供这些答案。
提前感谢您对此事的帮助。
Norbert Jarosch
质量经理
