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[参考译文] BQ27542EVM:有关 BQ27542测量仪表 IC 上的 SOH 压降的疑问

Guru**** 2386610 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1466096/bq27542evm-inquiry-regarding-soh-drop-on-bq27542-gauge-ic

器件型号:BQ27542EVM

工具与软件:

尊敬的 TI 支持团队:

我们目前正在客户项目中使用 BQ27542测量仪表 IC、遇到 SOH 在特定测试条件下意外降至59%的问题。 以下是该测试的详细信息:

  1. 充电条件: 0.25A 充电20秒。
  2. 负载条件: 脉冲加载大约2秒。
  3. 观察结果: 在测试过程中、SOH 异常持续发生在第57个周期。

您能否帮助确定此行为的潜在根本原因? 具体而言:

  1. 在这些情况下、是否有任何与 BQ27542算法相关的已知因素可能导致 SOH 下降?
  2. 脉冲负载或特定的充电/放电曲线是否会影响 SOH 计算或电池建模?

谢谢!