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[参考译文] BQ24610:TI 如何测试驱动器死区时间

Guru**** 2393725 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24610

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1480728/bq24610-how-ti-to-test-driver-dead-time

器件型号:BQ24610

工具与软件:

TI 人好

我的客户想知道 BQ24610如何在上部和下部 MOS 上测试死区时间、以及是否有任何标准和方法?

这种互补开放逻辑是如何工作的? 请帮助您详细解释这一点、谢谢  

非常感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    玉溪、您好!

    30ns 死区时间与 BQ24610 PWM 驱动器的功能有关。

    以及这种互补开放逻辑如何运作? 请帮助您详细解释这一点、谢谢您 [/报价]

    完整开关需使用两个确保两个开关 MOSFET 不会同时导通、以防止击穿电流。 当一个 MOSFET 关断时、存在30ns 的短暂死区时间、即在另一个 MOSFET 导通之前的死区时间。 这用于防止两个 MOSFET 同时导通并导致短路。

    此致、

    Christian。