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[参考译文] BQ3050:读取芯片 SN8765的 IFIB 值全部为0xff

Guru**** 2380860 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1475236/bq3050-read-the-ifib-value-of-chip-sn8765-is-all-of-0xff-ff

器件型号:BQ3050

工具与软件:

尊敬的 TI 工程师

尊敬的 TI 工程师

在、SN8765芯片的产品中、3%的情况下会出现最大温度采样结果 Δ T

具体详情如下:

1.在 NTC 数值异常的产品中,我们测试了 NTC 之间的电压,发现它是正常的

2.将 IC 替换为异常 NTC 值的好产品,好产品也有 NTC 异常情况

3.将 IC 替换为正常 NTC 功能 IC 的异常 NTC 值,异常 NTC 功能产品将正常

我们读取异常 IC 的 IFIB (0x12~0x1F)寄存器、发现 IFIB (0x12~0x1F)寄存器中的值为0xff

您知道 为什么芯片 SN8765的 IFIB 值全部为0xff?

期待您的回复!

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    您好、Zehu:

    此问题已分配、我们将回复您。

    此致、
    艾伦  

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    您好!

    我们正在研究这个问题。  

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    您好!

    如果这些值全部为0xFF、那么 IC 数据就会丢失、我不知道为什么该区域应该有一些意外更改保护、但从根本上只是闪存。

    我假设 IFIB 中的其他地址也被擦除、这意味着该部分没有被正确修整。 此外、也意味着任何批次跟踪信息都将丢失。

    更令人担忧的是、它可能发生在"3%的情况"中、 我建议跟踪闪存扇区中如此高的数据丢失、一旦它离开我们的工厂、就不应该进行任何修改。
    这需要设置特定的额外标志/令牌、以防止错误地擦除它。

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    感谢您的回答!

    我们使用库函数"ifibReadWord"来读取 IFIB 值、而 在我们 SN8765芯片中读取 ifib 寄存器时、就会 出现以下两种现象

    Phenomenon1:CAL=1时的 CC 偏移为0xff、其它 ifib 寄存器是其它正常值

    现象2:所有 ifib 寄存器值都是 0xff

    我还有  个问题

    问题1:关于  Phenomenon1  也不是正常的、只是我们在  对其编程时运行了电流校准。 使用 CAL=1的 CC Offset 是否为0xff ff noraml 现象?

    问题2: 关于 现象2、我们有什么行动可能导致这种情况?

    问题3:我们根据编程手册开发了编程板。 我们想问一下 IFIB 的绝对地址是什么?

    祝你一切顺利

    Zehu

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    你(们)好

    您有时间回答这三个问题吗? 非常感谢!

    祝你一切顺利

    Zehu

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    您好!

    1. Q1:CC Offset = 0xFFFF、CAL = 1 可能是溢出或错误的符号。 对照手册的校准输出规范进行验证。

    2. Q2:现象2 (均为0xFFFF)表明存在通信、电源或初始化问题。 检查总线完整性、功耗稳定性和初始化代码。

    3. Q3:你为什么要访问 IFIB? 这是器件的完整性部分。 不应被读取。  

      您是否 需要对固件重新编程?如果需要、 您可以向我发送一般编程序列、或者您确切地使用我们的其中一个工具、使用哪种工具和版本?  如果您在生产流程中发送的所有命令有任何可疑之处,错误最终会破坏 IFIB 的内容,那么使用 Beagle 跟踪将会非常有用。

      它最可能发生的位置是在 ROM 模式下的编程期间。