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[参考译文] TPS2663:不同温度下的时基故障率

Guru**** 2337880 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1475184/tps2663-fit-rate-at-different-temperatures

器件型号:TPS2663

工具与软件:

大家好、团队成员:  

TPS26631RGE 在不同温度(即20C、50C 和80C)下的时基故障率是否有任何值?

已在产品页面上找到功能安全和时基故障率的链接、但仅提到了55C 时的时基故障率。

查找这些值来计算 MTBF。

谢谢  

Maitriya  

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    你好、Maitriya、

    请在下面查找 FIT/MTBF 计算器。  

    https://www.ti.com/quality/docs/estimator.tsp

    谢谢  

    Amrit

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    尊敬的 Amrit:  

    感谢您的链接。

    两个后续问题:

    1.当文中提到55°C 时的时基故障值、那是周围温度、对吗? 还是芯片温度?

    2.报告提到测试实际是在125°C 下进行的 这是否意味着时基故障值在125°C 下进行了测试、然后在55°C 下推导得出?

    谢谢!

    Maitriya

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    1. 当文档提到55C 时的时基故障值时、这就是周围温度、对吗? 还是芯片温度?

    55度是客户用例温度。 125是我们在加速测试中对器件进行的测试。

    谢谢  

    Amrit  

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    尊敬的 Amrit:  

    感谢您的答复。  

    遗憾的是、我不太明白您所说的"125就是我们在加速测试中测试的器件"的含义。
    这是否意味着时基故障值仅在125°C 下进行了测试?

    此致!

    Maitriya

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    你好、Maitriya、

    是、器件已在125摄氏度的极端温度值下进行了测试。