主题中讨论的其他器件:TPS2597、 TPS1663
工具与软件:
尊敬的支持部门:
我有两种组装型号的电路。 两者都未遵循100ms 重试频率。 输出将持续短路。 我看到每隔4、5秒就会出现一次重试尖峰。
一种型号会显示4、5秒重试:
这种变体显示很少重试,以至于我没有任何图片。
路由原因可能是什么?
Simon
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您好、Simon:
我应该测量电流而不是电压吗?
是的、在自动重试期间、我们应该会看到一些由于输出电容或输出短路而导致的浪涌电流(限制为 ILIM 值)。 然后由于器件(Vin-Vout)* ILIM =(Vin-0)* ILIM 上的功率耗散较高、器件将进入 TSD、并在冷却10°C 后、重试延迟将开始、然后自动重试。
红色为输出电压。 由于电缆电感、在电流关闭时会变为负值。[/报价]我知道但最好直接测量电流。
此致、
Arush
尊敬的 Arush:
我是 Simon´s 的同事。 我为保险丝提起了案例。 该主题顶部提供的器件型号错误、正确的 PN 是:TPS25974ARPWR
我进行了一些测量、该器件在过流事件后不会再次尝试进行:
CH1 (黄色):分流器上的电压(输出电流)
CH2 (蓝色):保险丝输出电压
根据我的理解、器件应每110ms 尝试一次导通、一旦检测到过流、应该会再次停止、然后应继续执行该过程、这是正确的吗? 如果是、什么原因可能导致此延迟/终止重试?
当使用 TPS16630RGE 熔丝时、每隔2s 左右就会打开一次、如所示:
CH1 (黄色):分流器上的压降(输出电流)
CH2 (蓝色):保险丝输出电压
我假设它的原因是热调节的基本1.25秒延迟? 这里出现的问题是、这个保险丝即使在重试导通时也会变得非常热。 在这种´s 下、器件是否会由于其热调节而关断?
非常感谢您的观看、感谢您的帮助、祝您愉快。
谢谢、
垂直
我在器件号上犯了一个错误。 即 TPS25974。 我今天将测量电流、然后回复给您。
没问题。 两个器件应显示类似的行为。
尊敬的 Vlad:
根据我的理解、器件应每110ms 尝试一次导通、一旦检测到过流、应再次停止并继续执行此过程、这是否正确? [报价]是的、是这样。 一旦器件达到热关断阈值、它就会关闭。 它将等待温度下降10C、然后将启动此延迟110ms。 此后、它将执行重试。
从波形来看、好像器件正在进行一次重试、然后没有进行。
我有某项旧测试得到的该波形。 这是 TPS2597器件。 我进行了热短路、因此初始电流尖峰较高、然后每次重试都将受到电流限制、并且由于高功率耗散、重试将失败。
您是否可以共享测试设置和您要执行的步骤。
我假设它是因为热调节的基本1.25秒延迟? 这里出现的问题是、这个保险丝即使在重试导通时也会变得非常热。 在这种´s 下器件是否会因其热调节而关闭?测试 TPS1663和 TPS2597时、测试设置和遵循的步骤有何差异。 此处 TPS1663器件看起来正在进行重试。
此致、
[/quote]
Arush
尊敬的 Arush:
感谢您的快速回复。
在设置上几乎没有区别。 以下是设置示例:
在我的上面的 fotos 中、黄色信号对应于分流器上的电压测量值、而第二个电压测量值(ch2或蓝色)仅对应于输出电压。 在输出/负载处、没有开关、我只需将已连接到分流器第二个引脚和 GND 的2个香蕉连接器短接。 因此、对于两个保险丝、在这种设置中、IC 的行为有所不同。 TPS2597似乎没有尝试导通(根据示波器图像)、但在10至20秒后、保险丝复位并且它正常导通。
另一方面、TPS1663会持续尝试并变热、如前所述。
仅供参考、对于测试、我不会保持短路、只需轻触一次即可测试保险丝、然后保持开环。
非常感谢您的观看!
谢谢、
垂直
尊敬的 Vlad、Simon:
您能否分享一下相应的原理图并浏览我们的原理图?
我使用了 TI EVM。 用户指南文档中提供了原理图。 https://www.ti.com/lit/ug/slvucc0a/slvucc0a.pdf?ts = 1739333062751&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.google.com%252F
我展示的这项测试是热短路测试、然后保持短路状态。 您的原理图看起来也正常。 总之、BOM 不会影响此器件的自动重试机制。
请参加在线会议讨论。
如有需要、我们可以进行快速同步。
我会提出一些建议。 如果他们提供帮助、请告诉我。
此致、
Arush
尊敬的 Arush:
我按您的建议完成:EN 到外部2V、OVLO 到 GND 和 SC 产生了以下结果:
保持短路并去除可以得到:
设置保持不变:
分流器上的 CH1 (黄色)压降(0.1 Ω)
保险丝的 CH2 (蓝色)输出电压
这两个测试均使用了0.1欧姆分流器。 在保持短路时、可以看到与 TPS1663相同的结果、保险丝重试、但会变得非常热。 可以假定过热保护会阻止器件尝试、直到温度再次恢复正常吗?
因此、EN 和 OVLO 至 GND 处的2V 电压似乎可以解决问题。 通过此测试、您想找出问题所在。 您对此有何看法、您认为问题是什么? 器件是否在短路期间在输入端看到过压、从而停止尝试导通? 如果是这样、为什么不在初始短路后2、3秒等时间进行尝试、因为此时输入电压将再次稳定、或者丢失了什么?
是的、对2个相同的 TPS2597 保险丝重复了上述步骤、但我只使用您提供的这一新配置/测试对1个进行了测试。
感谢您的观看、祝您愉快。
垂直
尊敬的 Vlad:
保留简短描述并删除可得到此结果:[报价]
这里看起来不错、 我们可以看到自动重试次数。
[/quote][/quote]但却非常热。 是否可以假定过热保护会阻止器件在温度再次安全之前尝试?[/QUOT]
是的、当结温达到154C (典型值)时将触发热保护、并将等待器件冷却10°C (即144C)、然后启动110ms 的重试延迟计时器。 因此、在连续 TSD 事件期间、器件的平均温度会非常高。 TSD 可防止对器件造成直接损坏、但器件不允许出现这种高工作温度。 这里的优点是、我们不会期望器件在正常运行期间像这样运行、我们只会在某些故障状态下出现这种行为。
[/quote]您对此有何看法、您认为问题是什么? 器件是否在短路期间在输入端看到过压、从而停止尝试导通? 如果是这样,为什么它不尝试,以后,像2或3s 后的初始短路,因为输入电压将再次稳定,或者我缺少什么?[/报价]我想在进行测试时避免出现 UVP 或 OVP 击穿的可能性、因此我请求了此设置。 Vin 降至低电平并达到 UVLO 或 UVP、从而复位器件。 然后该器件将执行启动。 说实话、即使是这种情况、我希望器件也显示重试。 为了进一步成为根本原因、我建议使用旧设置捕获一些波形。 探测 EN 和 OVLO 引脚可能可以为我们提供一些见解。
另一种可能的情况是在进行短路时输出端的负电压。 软短路将降低负电压。 您的原理图中没有输出瞬态保护、电容也很小、因此短路期间的负输出电压可能会使器件复位(超出器件的绝对下限)。
此致、
Arush
尊敬的 Arush:
非常感谢您的回答、感谢您的解释。
我们有另一个 TPS2597保险丝被连接到12V 电源轨。 ´ve 都遇到了一些问题(5V 和12V)。 在´ve 的消息中、测量来自5V、这里、我们调整了 UVLO 和 OVLO 电压并重新测试、现在使用新阈值、似乎可以正常工作:
只要保持短路、电路重试、当短路被移除时、保险丝就会导通。
但是、12V 保险丝(第二个 TPS2597)的情况并非如此、这里我也已经按照您的建议完成了、通过外部电源将 UVLO 设置为6V、并将 OVLO 设置为 GND。 该器件重试以重新连接、但每隔2s 左右。 这也适用于悬空 EN/UVLO、但此处的频率更小:
无 EN/ UVLO 电压(悬空):
EN/UVLO 上电压为6V 时:
即使输入电压下降很短的时间、在 Vin 回到安全工作限值之间的某个时间之后、这应该仍然不会妨碍器件更频繁地尝试重新连接、对吗? 有什么想法、为什么器件重试速度如此慢? 它应该在 EN/UVLO 悬空的情况下实现吗?
我们如何安排通话?
感谢您的参与、祝您度过美好的一天/夜晚。
垂直
尊敬的 Vlad:
[报价 userid="590624" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1469154/tps25947-retry-not-100ms/5656980 #5656980"]即使输入电压将下降很短的时间、这仍然不应妨碍器件更频繁地尝试重新连接(在 Vin 回到安全工作限值之前的一段时间)、对吗? 有什么想法、为什么器件重试速度如此慢? 它是否应该在 en / UVLO 悬空的情况下实现?器件重试与 EN UVLO 或 OVLO 无关。 我只要求您这么做、因为有时在大电流测试期间、引线下降会触发这些故障状态、从而阻止重试。
您能帮助我了解一下这两个电源轨之间的差异吗? BOM 有何差异?
此致、
Arush
尊敬的 Arush:
可以确定、两个电源轨之间的唯一区别是一个是12V、另一个是5V。 对于这两种情况、保险丝上的电流限制设置为5A。 通过调整 UVLO 和 OVLO、我们使5V 保险丝(TPS2597)能够正常工作、就像我们用于24V 的其他较大保险丝(TPS1663 -从一开始就起作用、刚开始很热)一样、这就是我问 UVLO 和 OVLO 电压对重试的影响的原因、因为在故障状态下没有重试。
12V 和5V 保险丝之间的 BOM 差异是设置 UVLO 和 OVLO 的电阻器。
12伏保险丝电路:
和5V Fuse 电路:
尽管如此、如您所见、电路中一切都是相同的。
非常感谢您的观看、祝您度过美好的一天/夜晚。
谢谢;
垂直
尊敬的 Vlad:
这是意料之外的。 如前所述、UVLO 和 OVLO 不会直接影响重试延时时间。 我要求使用外部电源、因为在高电流事件期间、导线压降可能会导致跳变、这将阻止重试发生、直到 OVP 或 UVP 状态被移除。 无论如何、这应该在测试用例(短路)中清除、但仍然想删除这些变量、因此我要求您执行此操作。
我建议更换该器件、以检查是否在器件之后、还建议在 TI EVM 上评估该器件。
Vlad、请在 e2e 上接受我朋友的请求。
此致、
Arush