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[参考译文] BQ77915:BQ7791506PWR

Guru**** 2382500 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1473206/bq77915-bq7791506pwr

器件型号:BQ77915

工具与软件:

我们目前正在与合作 BQ7791506PWR 电池保护 IC 并执行 短路检测(SCD)测试 . 但是、我们面临的问题是 LD 引脚在一段时间后拉至低电平 、即使短路仍然存在于 P-和 P+ . 这会导致 IC 出现 重新检测短路、关断 MOSFET 并进入环路 .

因此、精度在范围内 MOSFET 会损坏 由于连续开关而产生的谐波。 我们捕获了波形、其中:

  • 黄色 表示 DSG FET 的栅源电压
  • 蓝色 表示 LD 引脚电压

观察结果:

  • 确切电压 仍然存在短路、但会恢复和打开 .
  • IC 会进入 环路中、它会检测到短路、关断 MOSFET、然后再次恢复 .这种快速切换导致了 MOSFET 故障。

在此图中、我们仅捕获了关断、但没有捕获环路。

但在第二个图中、我们捕获了蓝色的 FET 电压、您可以在此处看到连续开关。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Revanth:

    您是否有 SRP/SRN 引脚的波形? 这些因素决定了 SCD、而不是 LD。 是否有显示 MOSFET、LD 和 SRP/SRN 的波形?

    您能否分享您的原理图? MOSFET 的第二个图像上似乎存在寄生振荡。

    此致、

    Luis Hernandez Salomon