主题:SysConfig 中讨论的其他器件
工具/软件:
您好、
最初、以太网环回测试的 EVM 测试正常工作、直到通过写入大文件 (128KB) 及之后对 I2C 器件 0x50 (Board_ID EEPROM) 进行测试
当 ti_board_config.c 未能获得第 287 行的最大 MAC 地址数时、以太网环回测试将失败、如所示
#define ENET_Board_NUM_MACADDR_MAX (4U)
EnetAppUtils_assert (ENET_GET_NUM_MAC_ADDR (numMacMax)<= ENET_Board_NUM_MACADDR_MAX);
测试结果显示在这里。
只是想知道 I2C 器件是否将以太网 MAC 地址保存在 I2C 器件内的某些存储块中。
在对 I2C 器件进行大文件写入/读取测试之前、进行了较小文件 (6KB) 的测试、ENET 环回仍能正常工作。
将读/写测试大数据文件写入 I2C 后、 ENET 环回失败、如上所示、有 4 个不同的示例:
A53(Mac 端环回和 PHY 端环回)
R5F (MAC 端环回和 PHY 端环回)
下面是错误:
MAIN_Cortex_R5_0_0:===========================
MAIN_Cortex_R5_0_0:Enet Loopback:迭代 1.
MAIN_Cortex_R5_0_0:===========================
MAIN_Cortex_R5_0_0:CPSW_3G 测试
MAIN_Cortex_R5_0_0:启用时钟!
MAIN_Cortex_R5_0_0:生效@行:syscfg/ti_board_config.c 中的 287:enet_get_NUM_MAC_ADDR (numMacMax)<= ENET_Board_NUM_MACADDR_MAX:失败!!
请注意、切换到新的 64EVM 板、4 个示例上的 ENET 环回正常运行、具有 5 次迭代。 但是、新的电路板
我避免对大文件运行 I2C 写入/读取测试。 可以使用较小的数据文件运行 I2C 测试、ENET 环回仍有效。
问题是例程从哪里获取 MAC 地址?
要让测试板损坏时的 ENET 再次运行、请提供任何提示/帮助、这是非常感谢的。
谢谢、
Huynh
