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你好
我们使用 AM62P (XAM62P54AUMHAAMH) 的定制设计在低温下、在气候室测试中会出现一些故障。 到目前为止、我们测试过的所有七件产品都发生了这种情况。
仅在温度低于 0°C 时才会发生故障。 这些模块要么停止并崩溃、要么打印大量内核转储。
Linux 版本:6.6.84-7.3.0-devel
SYSFW: 4.0(固件版本 0x000b'11.0.7--v11.00.07 (Fancy Rat)')
例如、它会在启动过程中停止和崩溃。
e2e.ti.com/.../25_2D00_05_2D00_18_5F00_22_2D00_44_2D00_51_2D00_Fail.txt
例如、它在运行时开始打印内核转储、但仍然设法完成测试。 但是、它也可能在运行时崩溃。
e2e.ti.com/.../25_2D00_05_2D00_28_5F00_13_2D00_15_2D00_32_2D00_Fail_2800_1_2900_.txt
从我在日志中看到的内容可以看出、大多数迹线都指向 SD 卡接口 mmc1。 因此、我在禁用接口的情况下重新运行测试、看不到任何问题。 插入 SD 卡后、我也可以看到没有问题。 然而、这两种解决办法对我们来说都不是永久性的解决办法。
您是否知道什么导致了似乎与 MMC1 接口密切相关的问题?
从硬件的角度来看、四个数据通道和 CMD 通道被上拉至 3.3V/1.8V 电压轨。 由于某些机械问题、未组装 49.9kΩ MMC1_CLK 下拉电阻。 识别出该问题后、我们组装电阻器后重新运行测试、但问题仍然存在。
我们仍然想知道没有看到 MMC1_CLK 下拉电阻可能会触发哪些问题、以及不组装该下拉电阻是否也是安全的、以便我们无需重新设计电路板。
如果您需要更多信息、敬请告知。
此致
Franz