工具/软件:
你(们)好
在app_tidl_od TI Processor SDK RTOS 的演示应用中、如何访问和读取所检测到物体的详细信息?
具体而言、我希望检索各对象的检测结果(如分数)和边界框坐标、以便进一步使用或记录此数据。
据我所知、TIDL 的推理输出通常作为 A 返回 张量或数组。
如何访问 检测元数据 (分数,坐标,类 ID)?
演示代码中是否有实用功能或特定数据结构将张量解码为有意义的检测结果?
如果我要记录或导出原始检测结果、读取和解释张量内容的正确方法是什么?
为便于参考、我将在此处附加图像。
谢谢你
此致、
Komal 