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[参考译文] SK-AM62-LP:SDL MCU BIST 和 ECC(非 AM62A)

Guru**** 2540720 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1559859/sk-am62-lp-sdl-mcu-bist-and-ecc-not-am62a

器件型号:SK-AM62-LP


工具/软件:

当 我将 ecc_app_am62x-sk_r5fss0-0_freertos_ti-arm-clang 集成到 ipc_rpmsg_echo_linux_am62x-sk_r5fss0-0_freertos_ti-arm-clang 时。

我发现、执行 MCU BIST 后、ECC_MAIN (Null) 将卡住  

ECC 示例应用
ecc_example_init:初始化 main ESM 完成

void main_thread(void *args)
{
    int32_t status = SystemP_SUCCESS;

    /* Open drivers */
    Drivers_open();
    /* Open flash and board drivers */
    status = Board_driversOpen();
    DebugP_assert(status==SystemP_SUCCESS);

    /* wait for PBIST completion */
    status = App_waitForMcuPbist();
    DebugP_log("McuPbist = %d\n\r",status);

    /* start MCU LBIST*/
    status = App_startMcuLbist();

    /* wait for LBIST completion */
    status = App_waitForMcuLbist();
    DebugP_log("Lbist = %d\n\r",status);

    /* Init LPM specific data */
    Sciclient_initDeviceManagerLPMData(&gDMLPMData);

    sciServer_init();

    ecc_main(NULL);

    ipc_rpmsg_echo_main(NULL);

    /* Close board and flash drivers */
    Board_driversClose();

    vTaskDelete(NULL);
}

如果我不执行 MCU LBIST、它将正常工作。

下面是卡滞功能。

结果= SDL_ESM_INIT (SDL_ESM_INST_WKUP_ESM0、&ECC_Test_esmInitConfig_WKUP、SDL_ESM_applicationCallbackFunction、ptr);

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    您好:  

    BIST 测试本质上具有破坏性、因此可能会导致 MCU/Wkup ESM 功能出现一些问题。 由于您正在从 R5F 应用程序执行 BIST、因此您可能已像在 SBL 中一样复位 MCU 内核、然后再次尝试初始化 ESM。

    此致、

    Nihar Potturu

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    尊敬的 Nihar。

    感谢您的反馈。 将要求 Zheng 进行检查。

    还有两个问题。

    1.客户使用 SPL 引导模式。 现在、他们将 SDL 代码迁移到 在 DM R5 上运行的 ipc_rpmsg_echo_linux 映像。 好吗? 我可以提出您的建议吗?

    2.除 MCU BIST 外、哪一个还需要复位?

    3.假设 BIST 需要重置是一条规则、那么迁移 SDL 代码是否有其他规则?

    非常感谢!

    Yong

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    我检查了 sbl_ospi_nand_stage1_am62x-sk-LP_r5fss0-0_nortos_ti-arm-clang 的示例。

    我没有找到将 MCU 内核复位并重新初始化 ESM 的位置

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    您好:

    我找不到在何处复位 MCU 内核并重新初始化 ESM[/报价]

    我们不会重新初始化 ESM。  在 BootloadCpu API 中、我们会在加载每个内核各自的 appimage 之前对其执行复位。 在启动实际应用之前、这必须有助于使内核处于干净状态。  

    此致、

    Nihar Potturu

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    您好:

    BIST 测试本质上具有破坏性、因此我们不建议在运行时运行它们。 最好在启动时、在引导加载程序阶段、在内核上电并加载应用程序之前运行它们。

    我们在 SBL 引导流程的引导加载程序第 1 阶段运行它们。 在 SPL 引导流程中、需要在 R5F-SPL 中实现它们。 但是、我们目前没有能够证明这一点的示例。

    因此、我们建议切换到 SBL 引导流程而不是 SPL 引导流程、因为在这种情况下更容易实施 BIST 测试。 由于我们已经在 MCU+SDK 中提供了现有示例、因此 SBL 引导流程的实现也应该相当简单。

    此致、
    Nihar Potturu