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您好:
BSDL 通常在非引导情况下执行。 BSDL 相对较慢、它不太可能移出稳定的时钟+所有命令和数据信号、以正确操作 DDR 接口。 BSDL 可以对非易失性存储器执行该操作。
您可能能够切换不同的针脚并在夹具就位时看到效果。
使用边界扫描可以使用 DDR 器件进行哪种类型的测试? 也许 SOC 和 DDR 部分都可以通过 JTAG 以菊花链形式连接到同一 IO 环上、并且可以操作连接的两端。 我没有听说有人这样做、但似乎更符合传统上使用 BSDL 的方式。
DDR 接口需要进行速度测试以验证其是否正常。 大概你会有其他测试的电流和其他,当采取一起给了信心的界面. 如果没有 DDR 供应商提供的固定装置或定义的引脚状态、您获得的结果可能是不确定的。 您可能可以执行一些操作、例如驱动引脚读取相邻引脚来推断短路(看看其他引脚是否遵循逻辑电平)、但如果未计时、未初始化的 DDR 器件的引脚处于不确定状态、甚至可能会模糊。
我建议您询问 DDR 供应商是否有任何保证的测试状态。 DDR 的大多数 JTAG 级测试我熟悉负载测试模式并利用 SOC 控制器、并且没有尝试使用 BSDL 原子学。 一些接口与简单的边界匹配良好、其他接口需要一个装置或添加到 IO 菊花链中、以实现可靠的电平。
每个外部零件都有自己的属性。 用于静态闪存或 SRAM 的方法可能无法将其很好地映射到 DDR。 这可能是您已经做的工作、但您必须与内存供应商进行试验和验证。
Richard、
可能是我们在互相交谈。 您提到以下内容:
大多数针对 DDR 的 JTAG 级别测试我都熟悉负载测试模式并利用 SOC 控制器、并且没有尝试使用 BSDL 原子学。
这些是其他 JTAG 级别测试吗? 您能更详细地描述一下、还是可以在其他地方了解一下?
如果 JTAG 上有其他选项、我们不需要使用 BSDL 来测试 DDR。 我想我们对该处理器系列通常做的事情一无所知、因此我们试图确定推荐的测试流程是什么。 这与 Jacinto 评估板上使用的存储器相同、因此我假设 TI 有一种推荐的测试方法、我们可以遵循。
感谢您的耐心。