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[参考译文] TDA4AP-Q1:LPDDR4 边界扫描

Guru**** 2576195 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1573525/tda4ap-q1-lpddr4-boundary-scan

器件型号:TDA4AP-Q1


工具/软件:

我们需要一些帮助才能使 DDR 边界扫描在我们的工程中正常工作。  
我们将 TDA4AP 与 DDR0/DDR1 上的两个 MT53E2G32D4DE-046 AUT:C LPDDR4 芯片配合使用。 我们能够正常引导和运行代码。 但是、我无法使用边界扫描来测试与 RAM 的连接。 根据我们所做的调查、在边界扫描模式下似乎并未应用 Jacinto 处理器中的 DDR 配置、因此波形超出了存储器芯片的规格。 我们一直在与 XJTAG 合作来解决这个问题。 他们表示、他们已经实现了与其他供应商的处理器一起使用这款 Micron 芯片的边界扫描功能、但使用 Jacinto 系列处理器并没有成功。  
您能否提供 TI 的建议、即在边界扫描期间应用存储器设置以对 DDR 连接执行存储器测试?
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    您好、Ryan、

    您能否详细说明以下两点:

    Jacinto 处理器中的 DDR 配置未应用、情况则是如此

    2.内存芯片的波形超出规格

    谢谢、

    Kyle

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    您好:

    BSDL 通常在非引导情况下执行。  BSDL 相对较慢、它不太可能移出稳定的时钟+所有命令和数据信号、以正确操作 DDR 接口。  BSDL 可以对非易失性存储器执行该操作。

    您可能能够切换不同的针脚并在夹具就位时看到效果。

    使用边界扫描可以使用 DDR 器件进行哪种类型的测试?  也许 SOC 和 DDR 部分都可以通过 JTAG 以菊花链形式连接到同一 IO 环上、并且可以操作连接的两端。  我没有听说有人这样做、但似乎更符合传统上使用 BSDL 的方式。

    此致、
    理查德·W·
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    Richard、  

    根据您的回答、似乎我们的行为可能是错误的。 我们的最终目标是在组装电路板后验证连接。 在电路板组装后、TI 是否有推荐的方法来检查处理器与 RAM 之间的连接? 我们过去一直使用边界扫描来实现此目的、但如果这不是该处理器的推荐方法、我想实施正确的方法。  

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    DDR 接口需要进行速度测试以验证其是否正常。  大概你会有其他测试的电流和其他,当采取一起给了信心的界面.  如果没有 DDR 供应商提供的固定装置或定义的引脚状态、您获得的结果可能是不确定的。  您可能可以执行一些操作、例如驱动引脚读取相邻引脚来推断短路(看看其他引脚是否遵循逻辑电平)、但如果未计时、未初始化的 DDR 器件的引脚处于不确定状态、甚至可能会模糊。

    我建议您询问 DDR 供应商是否有任何保证的测试状态。  DDR 的大多数 JTAG 级测试我熟悉负载测试模式并利用 SOC 控制器、并且没有尝试使用 BSDL 原子学。  一些接口与简单的边界匹配良好、其他接口需要一个装置或添加到 IO 菊花链中、以实现可靠的电平。

    每个外部零件都有自己的属性。   用于静态闪存或 SRAM 的方法可能无法将其很好地映射到 DDR。  这可能是您已经做的工作、但您必须与内存供应商进行试验和验证。

    此致、
    理查德·W·
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    Richard、

    可能是我们在互相交谈。 您提到以下内容:

    大多数针对 DDR 的 JTAG 级别测试我都熟悉负载测试模式并利用 SOC 控制器、并且没有尝试使用 BSDL 原子学。

    这些是其他 JTAG 级别测试吗? 您能更详细地描述一下、还是可以在其他地方了解一下?

    如果 JTAG 上有其他选项、我们不需要使用 BSDL 来测试 DDR。 我想我们对该处理器系列通常做的事情一无所知、因此我们试图确定推荐的测试流程是什么。 这与 Jacinto 评估板上使用的存储器相同、因此我假设 TI 有一种推荐的测试方法、我们可以遵循。  

    感谢您的耐心。